ZHCAB61 November   2020 AWR1843 , AWR2243

 

  1.   商标
  2.   摘要
  3. 1引言
    1. 1.1 背景 – 简单的单芯片应用
  4. 2级联不一致性来源及缓解策略
    1. 2.1 PCB 布线不平衡与器件工艺
    2. 2.2 温度漂移
    3. 2.3 安排运行时校准
  5. 3实现级联一致性和改进的相位性能
    1. 3.1 简要总结
      1. 3.1.1 建议步骤的序列和介绍性流程图
    2. 3.2 保存客户工厂的 RF INIT 校准结果
      1. 3.2.1 LODIST 校准说明
      2. 3.2.2 在客户工厂执行 TX 移相器校准并保存结果
    3. 3.3 客户工厂处基于角反射器的失调测量
      1. 3.3.1 基于角反射器的通道间不平衡
      2. 3.3.2 基于角反射器的 TX 移相器误差
    4. 3.4 现场恢复工厂校准结果
      1. 3.4.1 现场恢复 RF INIT 校准结果
      2. 3.4.2 现场恢复 TX 相移校准结果
    5. 3.5 基于主机的现场温度校准
      1. 3.5.1 禁用 AWR 器件的自主运行时校准
      2. 3.5.2 实现基于主机的通道间不平衡温度校准
      3. 3.5.3 切换 DSP 不平衡数据
      4. 3.5.4 实现 TX 移相器基于主机的温度校准
        1. 3.5.4.1 估算任何温度下的 TX 相移值
        2. 3.5.4.2 AWR1843TX 移相器的温度校正 LUT
        3. 3.5.4.3 AWR2243 TX 移相器的温度校正 LUT
        4. 3.5.4.4 恢复 TX 相移值 – 格式转换
        5. 3.5.4.5 恢复 TX 相移值 – 转换时序和限制
        6. 3.5.4.6 典型校准后 TX 移相器精度
        7. 3.5.4.7 在不同相位设置之间进行扫描时的温漂校正
        8. 3.5.4.8 不同移相器设置下的振幅稳定性
        9. 3.5.4.9 客户 PCB 20GHz 同步路径衰减对 TX 移相器的影响
      5. 3.5.5 环境温度与器件温度
  6. 4概念展示
  7. 5其他（干扰、增益变化、采样抖动）
    1. 5.1 处理现场干扰
    2. 5.2 关于 TX 功率和 RX 增益漂移与温度间关系的信息
    3. 5.3 线性调频脉冲开始与 ADC 采样开始之间的抖动
  8. 6结论
  9.   A 附录
    1.     A.1 术语
    2.     A.2 参考文献
    3.     A.3 级联一致性拟议方案的流程图
    4.     A.4 用于降低 TX 移相器温漂的 LUT
    5.     A.5 TX 移相器校准数据保存和恢复 API 的循环移位

3.5.4.7 在不同相位设置之间进行扫描时的温漂校正

本节介绍了关于工厂校准期间温漂的次要方面，以及 Factory Measured Phase Shift ArrayCornerReflector,TXm (0-63) 的构成。即使环境温度是稳定的，如果在移相器设置从 0 到 63 进行扫描期间，器件温度因为自热而出现轻微的漂移，它可能会在试验过程中导致器件的 PS INL 测量出现漂移。如果不同相位设置之间存在显著的漂移，那么客户可以考虑在客户工厂测量的最后阶段重复执行 0 移相器设置测量，即针对设置 0、1、2、3、….、62、63、0 测量移相器 INL。从测量值推导出移相器 INL 后，主机处理器可以按照以下公式所述施加呈线性增加的校正，使得 0 相位设置测量的移相器 INL 最终变为 0。

Equation9. Factory Measured Phase Shift Array (0-64) = Factory Measured Phase Shift Array (0-64) - Factory Measured Phase Shift Array (0)。
Equation10. Factory Measured Phase Shift Array (0-63) = Factory Measured Phase Shift Array (0-63) + ((360° – Factory Measured Phase Shift Array (64))*[0:63]/64。

在这里，Factory Measured Phase Array (64) 是指在最后阶段重复使用 0 相位设置时测得的相移值。

这可以补偿在不同移相器设置之间进行扫描时温漂带来的影响。图 3-6 展示了通过在各相位设置上施加线性校正来补偿对 PS INL 测量的温漂影响。

GUID-0B284757-4895-4D6E-A634-B4EB0B39925F-low.png图 3-6 校准过程中测得的原始 PS INL，以及对校准测量期间相位变化温漂的线性补偿图示
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