如果使用的是高侧 R_REF，则需要在执行诊断测量时进行多项配置更改：

• 切换 IDAC1 以在引线 2 上输出 (AINN)
• 启用 IDAC2 以在引线 3 上输出 (AINCOM)
• 选择 ADC 内部 VREF 作为基准电压源
• 选择 AINN 和 AINCOM 作为测量输入（必要时）
• 降低 PGA 增益（必要时）
• 减小 IDAC 电流强度（必要时）

需要另一个基准电压源，以便检查对故障进行测量的结果，因为这种情况下无法强制电流流过 R_REF。此操作与所有其他测量例程都不同，并一定要确保在诊断周期完成时重新选择外部 VREF 输入。

另外，在必要时考虑使用最后三个步骤，因为系统可能已在诊断测量开始前进行了这样的配置。例如，单 IDAC、3 线 RTD 系统始终要进行两次测量，以消除引线电阻：首先是 AINP 和 AINN 之间，其次是 AINN 和 AINCOM 之间。因此，可以在第二次测量后、已选择 AINN 和 AINCOM 时实现此诊断例程，从而节省一些通信和开关时间。另外，系统可能正在测量较大的 RTD（例如 Pt1000），其中 PGA 增益已设为 1V/V 并且 IDAC 电流强度较小。后两个步骤对于故障检测非常重要，此节稍后会更详细地介绍这方面内容。

图 3-5显示了如何为采用高侧 R_REF 的单 IDAC、3 线 RTD 系统实现诊断测量。

图 3-5 诊断测量使用高侧 R_REF 来检测引线 2 是否断开

如果此诊断测量期间引线 2 未断开，那么 AINx 引脚上会出现以下电压（由Equation1 和Equation2 确定）：

AINN 和 AINCOM 之间产生的差分电压 V_{IN (no wire break)}可以通过Equation3 计算，其中假定 R_LEAD2 = R_LEAD3，IDAC1 = IDAC2 且 R_FILTER 电阻器匹配良好：

如果没有发生会导致电路运行方式发生改变的故障，V_{IN (no wire break)}电压会非常小，因为 R_LEADx 在大多数情况下都小于 10Ω。

相比之下，当引线 2 断开时，IDAC1 接地路径会消失，从而导致 IDAC1 试图强制电流进入高阻抗模拟输入 AINN。高阻抗作用相当于开路，因此当 IDAC 电路尝试保持恒定电流时，AINN 上的电压会升高。最终，此电压会被驱动至正电源 (AVDD)，使得目前的 AINN 也约等于 AVDD。

另外，AINCOM 上的电压实际上会降低，因为 IDAC1 不再能够流过 R_LEAD3 和 R_BIAS，进而导致 AINCOM 处出现一个绝对电压，如Equation4 所示：

AINN 和 AINCOM 之间产生的差分电压 V_{IN (wire break)}可以通过Equation5 计算得出：

假设根据此节开头时讨论的配置更改选择了较小的 IDAC2 强度，V_{IN (wire break)}会明显大于 V_{IN (no wire break)}，因此很容易检测到。为了量化较小的 IDAC2 强度 所代表的意思，需要考虑系统中的 AVDD 电压以及 R_FILTER 和 R_BIAS 的大小，这两个电阻通常分别近似为 1kΩ 至 5kΩ。例如，如果 AVDD = 5V、R_FILTER = 5kΩ 且 R_BIAS = 2kΩ，那么选择 100 µA 的 IDAC 强度会是一个不错的起点。假设 R_LEADx = 10Ω，则可以将这些值输入Equation6 和Equation7，以确定结果是否能清楚地指示何时发生故障：

在本例中，应将 PGA 增益设为 1V/V，以便可以测量 V_{IN (wire break)}而不会导致放大器饱和。系统所需的具体增益最终取决于不同的电阻值、AVDD 和所选的 IDAC 电流强度，因此应注意适当地选择这些值。