为了评估高压应力对器件的影响,使用下述过程测试了一组(35 个)器件。
- 首先对这些器件进行测试,并记录选定的参数以供以后比较。
- 对每个器件中的 OTP 进行编程,以便为电荷泵供电,并在测试期间默认启用高侧 CHG 和 DSG 保护 FET 驱动器。
- 每个器件上的选定引脚通过无源器件连接到单个电压源(初始设置为 0V),如图 2-1 中的原理图所示。
- 将电路放入加热室中,电压源从 0V 缓慢上升到 120V,上升时间约为 5 秒。电压源被限制为 5mA 的输出电流。
- 在 120V 电源保持恒定的情况下,在大约 10 分钟内将加热室加热到 85°C。
- 将电压源断电,从加热室中取出器件。
- 重新测试器件,记录所选参数并与之前采用的参数进行比较。
图 2-1 用于电压应力的系统原理图