此选项卡仅用于显示信息。用户不能在此选项卡上进行选择。
“Totals - ISO26262”选项卡包含基于先前选项卡中的选项得出的芯片级 FMEDA 指标结果。此选项卡汇总了 ISO 26262 功能安全标准规定的各项指标。表格顶部分项显示了芯片永久性故障、芯片瞬态故障和封装故障的总时基故障和诊断覆盖率，最后显示每一行的故障总和。提供了以下信息：
- 总时基故障（原始时基故障）：使用所述的基础时基故障模型在“Mission Profile Tailoring”选项卡中输入的环境条件下得出的器件总基础故障率。
- 安全相关时基故障：总时基故障的一个子集，其中只包括在“Pin Level Tailoring”和“Function and Diag Tailoring”选项卡上指示为安全相关的设计块或器件引脚。
- 硬件随机失效概率指标 (PMHF)（以 FIT 为单位）：“Pin Level Tailoring”和“Function and Diag Tailoring”选项卡中的诊断选项直接影响此百分比。
- 单点故障指标 - SPFM：用于检测和防止单点故障的覆盖百分比。
- 潜在故障指标 - LFM：用于检测和防止潜在故障的覆盖百分比。
还有一些基于 ISO 26262 标准中术语的中间计算：
- 总故障 (λ)
- 安全相关故障总计 (λSR)
- 非安全相关故障总计 (λnSR)
- 安全故障总计 (λS)
- 非安全故障总计 (λnS)
- 可能违反 SG 的故障总计 (λPVSG)
- 单点故障总计 (λSPF)
- 残余故障总计 (λRF)
- 多点初级【非 PVSG】故障总计 (λMPFPrimary)
- 多点次级 [PVSG] 故障总计 (λMPFSecondary)
- 多点检测故障总计 (λMPF_det)
- 多点潜在故障总计 (λMPF,l)
感知故障概念不适用于半导体级别，因为在此级别的分析中无法考虑驱动器的故障检测能力。