ZHCABL1A December   2020  – January 2022 TAS2563

 

  1.   摘要
  2.   商标
  3. 1布局指南
    1. 1.1  典型应用电路
    2. 1.2  VBAT
    3. 1.3  DREG
    4. 1.4  GREG
    5. 1.5  PVDD 和 VBST
    6. 1.6  VDD
    7. 1.7  IOVDD
    8. 1.8  输出引脚
    9. 1.9  感测引脚
    10. 1.10 数字部分
    11. 1.11 接地平面
  4. 2原理图
    1. 2.1 推荐的外部组件
  5. 3去耦电容器
  6. 4修订历史记录

去耦电容器

所有 PCB 布线均已定义阻抗,在各设计阶段都必须考虑这些阻抗。这些信号路径将作为电路板中的附加元件。另外,PCB 线路具有可导致不同功率分布的寄生电感和电容。

为减少所有这些寄生阻抗的负面影响,TI 建议,VBAT 和 VDD 去耦电容器连接应遵循以下规则:

  • 在同一层且靠近器件引脚的地方放置去耦电容器。去耦电容器存储本地电荷,并在需要时提供较大瞬态电流。TAS2563 器件具有许多开关活动和电压波动,需要在短时间内产生较大电流瞬态。此外,由过孔、迹线和焊盘引起的寄生效应会在电源中产生压降。将去耦电容器靠近电源引脚放置,可补偿这些影响,并在需要时提供较大的瞬态电流。对于多层板,电容器应放置在 TAS2563 器件所在层。否则,因过孔连接而产生的附加电容可能会降低去耦电容值。

  • 将去耦电容器放置在尽可能靠近 VDD 和 GND 过孔的地方。如果可能,将过孔直接放置在电容器安装焊盘上或其附近。过孔定义阻抗取决于其长度和直径。该阻抗可能导致压降(在高频应用中,信号完整性受显著影响)和电流,必须减小或加以避免。因此,TI 建议,在安装焊盘周围增加多个过孔。这种方法可降低寄生阻抗。

GUID-1F75ED62-3BFC-4EF9-B9F3-9DF4F4C20E30-low.png图 3-1 去耦电容器