ZHCABS9A October 2017 – September 2022 TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S
HWBIST 是指由 ATPG 工具生成的电路和扫描模式，用于筛查目标电路内的逻辑故障。这种方法广泛用于半导体器件测试。所有 C2000 器件在器件制造过程中都利用某种级别的硬件辅助测试。一些较新的 C2000 器件支持客户在其系统测试中使用此测试技术，以测试 CPU 的完整性 (US 8,799,713 B2)。本文档介绍如何以及为何在系统级别利用 HWBIST。
表 1-1 列出了本应用报告中使用的术语和缩写。
| 缩写 | 术语 |
|---|---|
| ATPG | 自动生成测试模式 |
| BIST | 内置自检 |
| 捕获 | 当种子通过待测逻辑计时时，嵌入式电路捕获变化逻辑的结果 |
| C28x | TMS320C28x 器件中内核 32 位 CPU 的名称 |
| CS | Code Composer Studio™ |
| CLA | 控制律加速器 |
| 环境恢复 | 在完成硬件 BIST 微运行后恢复中央处理器 (CPU) 寄存器和状态标志的过程。这是由软件执行的。 |
| 环境保存 | 在启动硬件 BIST 微运行之前保存 CPU 寄存器和状态标志的过程。这是由软件执行的。 |
| 内核界限 | 在微运行测试期间，CPU 内核与外设和中断信号断开连接。测试后，内核重新连接到这些信号。 |
| 覆盖率 | 硬件 BIST 所覆盖的 CPU 逻辑的百分比。 |
| CPU | 中央处理器 |
| CRC | 循环冗余校验 |
| DC | 诊断覆盖率 |
| 闪存 | 非易失性片上存储器 |
| FPU | 浮点单元 |
| HWBIST | 硬件内置自检 |
| ISR | 中断服务例程 |
| JTAG | 联合测试行动组。JTAG 是一种基于扫描的通信协议（如 I2C），它允许扫描到测试电路或仿真电路。 |
| 微运行 | 执行完整 HWBIST 测试执行的一部分。HWBIST 设计为支持分段执行完整覆盖率测试，以更好地管理中断延迟和功耗。这些微运行必须在更小的时间片中执行，以实现更高效的任务调度。在微运行期间，CPU 与所有外设和存储器隔离。此外，中断由 HWBIST 控制器记录。 |
| MISR | 多输入签名寄存器 |
| NMI | 不可屏蔽中断 |
| PEST | 定期自检 |
| PLL | 锁相环 |
| POR | 加电复位 |
| POST | 开机自检 |
| RAM | 随机存取存储器 |
| ROM | 只读存储器 |
| 种子 | 使用扫描路径加载到电路中的初始状态，以便电路在测试开始之前以已知状态开始 |
| 信标 | 通过多内核器件上使用的 CPU1 或 CPU2 获取对某些自检寄存器的写访问权限的机制 |
| SDL | 软件诊断库 |
| STL | 自检库 |
| TMU | 三角函数加速器 |
| TRM | 技术参考手册 |
| VCU | Viterbi 和复杂数学单元 |
在具有 HWBIST 的 C2000 器件上，HWBIST 以 C28x CPU 和 FPU、VCU、CRC 以及 TMU 加速器为目标。还包括仿真分析电路，该电路管理这些处理元件和仿真器之间的通信，以及管理诸如断点、观察点和单步执行等功能。
HWBIST 不针对器件上的其余逻辑。器件上的另一个逻辑可通过器件特定安全手册中所述的其他自检或诊断机制进行测试。
有关 HWBIST 的可用性，请参阅器件特定数据表。您还可以查看以下文档，以了解 HWBIST 以及其他功能安全特性和配套资料：
虽然本文档重点介绍 HWBIST，但对于没有 HWBIST 且符合功能安全要求的 C2000 器件（如 F28004x 器件系列中的此类器件），提供了一个 C28x 自检库 (C28x STL)，以使用基于软件的方法测试 CPU 逻辑的完整性。同样，HWBIST 不包括控制律加速器 (CLA)，因此，对于具有 CLA 的器件，可以使用单独的 CLA 自检库 (CLA STL)。这些库是应要求提供的，请联系您当地的 TI 销售人员以请求访问权限。