10 闩锁效应抑制

集成模拟多路复用器中发生闩锁事件的可能性增加，这是因为晶体管的特征尺寸更小且放置密度更高。对于在易受过压尖峰、瞬态和电流注入影响的恶劣环境中运行的器件，尤其如此。在这些环境中，我们建议使用绝缘体硅 (SOI) 等工艺来实现闩锁效应抑制多路复用器。有关更多信息，请参阅使用闩锁效应抑制多路复用器帮助改善系统可靠性