ZHCABZ7C October   2015  – April 2024 DP83867CR , DP83867CS , DP83867E , DP83867IR , DP83867IS

 

  1.   1
  2.   商标
  3. 1简介
  4. 2排查应用问题
    1. 2.1 读取并检查寄存器值以进行基本运行状况检查
    2. 2.2 原理图和布局检查清单
    3. 2.3 元件检查清单
      1. 2.3.1 磁性元件
      2. 2.3.2 晶体/振荡器
    4. 2.4 外设引脚检查
      1. 2.4.1 电源
      2. 2.4.2 RBIAS 电压和电阻
      3. 2.4.3 探测 XI 时钟
      4. 2.4.4 探测 RESET_N 信号
      5. 2.4.5 在初始化期间探测配置 (strap) 引脚
      6. 2.4.6 探测串行管理接口信号（MDC、MDIO）
      7. 2.4.7 探测 MDI 信号
    5. 2.5 链路质量检查
    6. 2.6 使用各种环回模式进行内置自检
    7. 2.7 调试 MAC 接口
      1. 2.7.1 RGMII 调试
      2. 2.7.2 SGMII 调试
  5. 3应用特定调试
    1. 3.1 提高短电缆的链路裕度
    2. 3.2 提高不同通道的链路裕度
    3. 3.3 在 100Mbps 全双工强制模式下建立链路
    4. 3.4 1Gbps 通信中的链路建立不稳定问题调试
    5. 3.5 DP83867PHY 和 DP83867PHY 无法以 1Gbps 建立链路
    6. 3.6 合规性调试
    7. 3.7 EMC 调试
    8. 3.8 工具和参考
      1. 3.8.1 DP83867 寄存器访问
      2. 3.8.2 扩展寄存器访问
  6. 4结论
  7. 5参考资料
  8. 6修订历史记录

2.4.5 在初始化期间探测配置 (strap) 引脚

在某些情况下，电路板上的其他器件（例如，MAC）可能会意外地拉动或驱动这些引脚。确认这些信号处于数据表中所述的目标电压范围内。可在上电期间以及上电后 RESET_N 信号有效时进行测量。

配置 (strap) 锁存过程发生在上电过程中。锁存事件通常发生在 VDD 上拉后的 200ms 内。

DP83867 配置 (strap) 锁存过程图 2-3 配置 (strap) 锁存过程

为了进一步确认，可以从寄存器中读取配置 (strap) 值。这些值可在寄存器 0x006E (STRAP_STS1) 和寄存器 0x006F (STRAP_STS2) 中找到。节 3.8.2
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