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4.1 常见错误代码

表 4-1 列出了常见错误代码和相关的调试步骤。

表 4-1 常见错误代码表

错误消息调试步骤

错误消息	调试步骤
`This error is generated by TI's USCIF driver or utilities. The value is '-233' (0xffffff17). The title is 'SC_ERR_PATH_BROKEN'. The explanation is: The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken. An attempt to scan the JTAG scan-path has failed. The target's JTAG scan-path appears to be broken with a stuck-at-ones or stuck-at-zero fault.`	通常在未正确连接 JTAG 信号时报告此错误，但此错误也可能是由信号质量不佳引起的。当 TDI 和 TDO 在运行时用作通用输入/输出 (GPIO) 时，如果调试探针使用 4 引脚 JTAG，也会发生这种情况。如果上拉或下拉电阻器对信号线影响太大，也会发生这种情况，因此请在调试时尝试将其移除。如果器件无法正常引导，则有时会出现此错误。使用示波器观察电源轨和 XRSn，以确保器件正常引导并且 XRSn 变为高电平。由于看门狗的影响，预计 XRSn 会在未编程的器件上定期重新引导。请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。
`Error connecting to the target: (Error -1015 @ 0x0) Device is not responding to the request. Device may be locked, or the debug probe connection may be unreliable. Unlock the device if possible (e.g. use wait in reset mode, and power-cycle the board.) If error persists, confirm configuration and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`Error connecting to the target: (Error -151 @ 0x0) One of the FTDI driver functions used during the connect returned bad status or an error. The cause may be one or more of: no XDS100 is plugged in, invalid XDS100 serial number, blank XDS100 EEPROM, missing FTDI drivers, faulty USB cable.` `Use the xds100serial command-line utility in the 'common/uscif' folder to verify the XDS100 can be located.` `(Emulation package 8.0.903.2)`	1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。 2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。 3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。
`Trouble Reading Register PC: (Error -1156 @ 0x0) Device may be operating in low-power mode. Do you want to bring it out of this mode? Choose 'Yes' to force the device to wake up and retry the operation. Choose 'No' to retry the operation without waking the device.`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`C28xx_CPU1: Error: (Error -1044 @ 0x0) The debug probe reported an error. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.`	尝试在不对目标 MCU 进行下电上电的情况下对调试探针进行下电上电。尝试更可靠的 JTAG 设置，例如较低的时钟频率。
`The value is '-230' (0xffffff1a).` `The title is 'SC_ERR_PATH_MEASURE'.` `The explanation is: The measured lengths of the JTAG IR and DR scan-paths are invalid.` `This indicates that an error exists in the link-delay or scan-path.`	当 JTAG 信号的信号质量较差时，通常会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。
`C28xx_CPU1: Trouble Setting Breakpoint with the Action "Continue or Finish Stepping" at 0x83146: (Error -1066 @ 0x83146) Unable to set/clear requested breakpoint. Verify that the breakpoint address is in valid memory. (Emulation package 9.13.0.00201) C28xx_CPU1: Breakpoint Manager: Retrying with a AET breakpoint`	对于某些器件，在通过闪存运行代码时只允许有一个断点，因为必须使用硬件断点。查看器件数据表，以了解硬件断点数量。
`Error Initializing Emulator: (Error -2083 @ 0x0) Unable to communicate with the debug probe. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.`	1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。 2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。 3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。
`Error connecting to the target: (Error -2131 @ 0x0) Unable to access the device register. Reset the device, and retry the operation. If error persists, confirm configuration, pwer-cycle the board, and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.` `The value is '-242' (0xffffff0e).` `The title is 'SC_ERR_ROUTER_ACCESS_SUBPATH'.` `The explanation is: A router subpath could not be accessed.` `The board configuration file is probably incorrect.`	1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。 2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。 3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。
`Error connecting to the target: (Error -267 @ 0x0) The controller could not detect valid target supply. JTAG connection and/or connection setting specifying voltage level.`	仅当调试探针上的 VTREF 引脚未连接到 3.3V 时才会出现该错误消息。确保目标板已通电。
`C28xx: Failed CPU Reset: (Error -1137 @ 0x0) Device is held in reset. Take the device out of reset, and retry the operation.`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`The JTAG IR Integrity scan-test has failed.` `The JTAG DR Integrity scan-test has failed.`	当 JTAG 信号的信号质量较差时，会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.
The value is '-233' (0xffffff17).
The title is 'SC_ERR_PATH_BROKEN'.
The explanation is: The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken.
An attempt to scan the JTAG scan-path has failed.
The target's JTAG scan-path appears to be broken with a stuck-at-ones or stuck-at-zero fault.

通常在未正确连接 JTAG 信号时报告此错误，但此错误也可能是由信号质量不佳引起的。

当 TDI 和 TDO 在运行时用作通用输入/输出 (GPIO) 时，如果调试探针使用 4 引脚 JTAG，也会发生这种情况。

如果上拉或下拉电阻器对信号线影响太大，也会发生这种情况，因此请在调试时尝试将其移除。

如果器件无法正常引导，则有时会出现此错误。使用示波器观察电源轨和 XRSn，以确保器件正常引导并且 XRSn 变为高电平。由于看门狗的影响，预计 XRSn 会在未编程的器件上定期重新引导。

请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

Error connecting to the target: (Error -1015 @ 0x0) Device is not responding to the request. Device may be locked, or the debug probe connection may be unreliable. Unlock the device if possible (e.g. use wait in reset mode, and power-cycle the board.) If error persists, confirm configuration and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

Error connecting to the target: (Error -151 @ 0x0) One of the FTDI driver functions used during the connect returned bad status or an error. The cause may be one or more of: no XDS100 is plugged in, invalid XDS100 serial number, blank XDS100 EEPROM, missing FTDI drivers, faulty USB cable.

Use the xds100serial command-line utility in the 'common/uscif' folder to verify the XDS100 can be located.

(Emulation package 8.0.903.2)

1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。

2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。

3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。

Trouble Reading Register PC: (Error -1156 @ 0x0) Device may be operating in low-power mode. Do you want to bring it out of this mode? Choose 'Yes' to force the device to wake up and retry the operation. Choose 'No' to retry the operation without waking the device.

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

C28xx_CPU1: Error: (Error -1044 @ 0x0) The debug probe reported an error. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.

尝试在不对目标 MCU 进行下电上电的情况下对调试探针进行下电上电。尝试更可靠的 JTAG 设置，例如较低的时钟频率。

The value is '-230' (0xffffff1a).

The title is 'SC_ERR_PATH_MEASURE'.

The explanation is: The measured lengths of the JTAG IR and DR scan-paths are invalid.

This indicates that an error exists in the link-delay or scan-path.

当 JTAG 信号的信号质量较差时，通常会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。

请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

C28xx_CPU1: Trouble Setting Breakpoint with the Action "Continue or Finish Stepping" at 0x83146: (Error -1066 @ 0x83146) Unable to set/clear requested breakpoint. Verify that the breakpoint address is in valid memory. (Emulation package 9.13.0.00201) C28xx_CPU1: Breakpoint Manager: Retrying with a AET breakpoint

对于某些器件，在通过闪存运行代码时只允许有一个断点，因为必须使用硬件断点。查看器件数据表，以了解硬件断点数量。

Error Initializing Emulator: (Error -2083 @ 0x0) Unable to communicate with the debug probe. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.

1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。

2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。

3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。

Error connecting to the target: (Error -2131 @ 0x0) Unable to access the device register. Reset the device, and retry the operation. If error persists, confirm configuration, pwer-cycle the board, and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.

The value is '-242' (0xffffff0e).

The title is 'SC_ERR_ROUTER_ACCESS_SUBPATH'.

The explanation is: A router subpath could not be accessed.

The board configuration file is probably incorrect.

1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。

2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。

3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。

Error connecting to the target: (Error -267 @ 0x0) The controller could not detect valid target supply. JTAG connection and/or connection setting specifying voltage level.

仅当调试探针上的 VTREF 引脚未连接到 3.3V 时才会出现该错误消息。确保目标板已通电。

C28xx: Failed CPU Reset: (Error -1137 @ 0x0) Device is held in reset. Take the device out of reset, and retry the operation.

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

The JTAG IR Integrity scan-test has failed.

The JTAG DR Integrity scan-test has failed.

当 JTAG 信号的信号质量较差时，会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。

请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。