作为节 3.8中介绍的迭代方法的替代方法，性能分析工具可用于更好地选择 R_s 的理想值。通过将性能分析工具应用于图 3-12 中显示的初始扫描结果，可以将建立误差表示为 R_s 值的函数。要启动性能分析工具，请使用 PSpice for TI 仿真窗口左上角的菜单转到“Trace”➔“Performance Analysis...”。性能分析工具如图 3-15 所示。

图 3-15 F280049 性能分析示例

使用“Wizard”创建性能分析迹线。当系统提示您选择测量值时，请选择“YatX”，如图 3-16 所示。当系统提示您完成测量表达式时，请输入 V(Vch, Voa_ss) 作为要搜索的迹线的名称，输入 3.12µs 作为测量 Y 值的 X 值，如图 3-17 所示。请注意，该测量表达式测量 V_error 迹线在 3.12µs 处的 Y 值，3.12µs 恰好在采集窗口结束后。因此，该测量表达式测量建立误差。

图 3-16 F280049 性能分析向导示例 - 第 2 步，共 4 步

图 3-17 F280049 性能分析向导示例 - 第 3 步，共 4 步

使用“Wizard”完成操作后，系统将显示作为 R_s 值函数的建立误差性能分析迹线，如图 3-18 所示。请注意，建立误差标度已调整为显示 -2mV 至 +2mV 的范围。通过双击垂直轴并修改“Data Range”，可以根据需要进一步调整建立误差标度。

图 3-18 F280049 性能分析迹线示例

查看性能分析迹线可以发现，当 R_s 值约为 26Ω 时，建立误差约为零，而当 R_s 值约为 44Ω 时，建立误差再次约为零。但是，图 3-12 表明，相比较大 R_s 值，较小 R_s 值往往会导致较大的 V_error 振荡。较大的 V_error 振荡并不理想，因为采集窗口持续时间的微小变化会导致建立误差发生较大变化。此外，R_s 值接近 26Ω 时的性能分析迹线斜率比 R_s 值接近 44Ω 时的性能分析迹线斜率更陡。较陡的性能分析迹线斜率并不可取，因为 R_s 值的微小变化会导致建立误差的较大变化。因此，约为 26Ω 的 R_s 值被忽略，取而代之的是约为 44Ω 的 R_s 值。

根据性能分析迹线，介于 24Ω 和 56Ω（含）之间的任何 R_s 值都将实现充分建立。因此，可以从 24Ω 至 56Ω（含）范围内的一组标准电阻值中选择 R_s 的最终值，优先选择接近 44Ω 的标准电阻值。R_s 的理想值是该范围内可提供最小建立误差的标准电阻值。根据性能分析迹线，该范围内提供最小建立误差的 5% 标准电阻值为 43Ω。因此，选择 R_s 的最终值作为理想值，即 43Ω。