ZHCACN0 may   2023 AFE539A4

 

  1.   1
  2.   设计目标
  3.   设计说明
  4.   设计说明
  5.   测试结果
    1.     测量的设计特性
  6.   寄存器设置
  7.   伪代码示例
  8.   设计中采用的器件
  9.   设计参考资料

测量的设计特性

TEC DAC 输出电压与功率间的关系显示了测试热敏电阻检测功能时 TEC 元件的功耗。器件最初处于导通状态,然后使用外部热源对功率电阻器加热。当热敏电阻检测到 TEC 上的温度升高时,TEC 的功率降低,导致 ADC 电压发生变化。散热后,器件上的 PI 控制器会更改 DAC 的电压输出,从而修改功耗并恢复到 ADC 的设定点。

GUID-20230413-SS0I-WCTG-BVVT-LSWB3LBVSFSC-low.svgTEC DAC 输出电压与功率间的关系

上图比较了 DAC 电压与 TPS63070 的相同功率输出间的关系。由于 DAC 电压(和电阻器网络)对 TPS63070 的电压进行偏置,因此 DAC 电压与 TPS63070 的功率输出具有比例关系。

TEC 的测量温度与 DAC 功率间的关系突出了 TPS63070 上的功率与 TEC 温度间的反比关系。随着 TEC(功率电阻器)升温,TEC 的功耗会降低。相反,功耗的增加会导致 TEC 冷却。当 PI 控制器接近设定点时,存在大约 ±0.2°C 的纹波。

GUID-20230413-SS0I-3JMB-9LVJ-C2MCCZQXGBB6-low.svgTEC 的测量温度与 DAC 功率间的关系