场景 1：图 3-1 显示了测试设置。每个点的状态均为电源关闭（Vout = 0V、LS_GD 为低电平且 Q1 关断）。将 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT。DP_IN/DM_IN 的电压快速变为与 VBAT 相同的电平。图 3-7 和图 3-8 显示了测试结果。

场景 2：图 3-2 显示了测试设置。DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT。输入电压和 DP_IN/DM_IN 电压均快速变为与 VBAT 相同的电平。图 3-9 和图 3-10 显示了测试结果。

场景 3：图 3-3 显示了测试设置。首先，将 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 并接通电源，然后启用 EN。图 3-11 和图 3-12 显示了测试结果。

CH1 = 5V/div，CH2 = 5V/div，CH3 = 5V/div，2µS/div

图 3-7 在断电并将 DP_IN 短接至 VBAT 的条件下测试

CH1 = 5V/div，CH2 = 5V/div，CH3 = 5V/div，10mS/div

图 3-9 在将 DP_IN 短接至 VBAT 然后上电的条件下测试

CH1 = 5V/div，CH2 = 5V/div，CH3 = 5V/div，CH3 = 5V/div，400mS/div

图 3-11 在将 DM_IN 短接至 VBAT 并上电，然后启用 EN 的条件下测试

CH1 = 5V/div，CH2 = 5V/div，CH3 = 5V/div，2µS/div

图 3-8 在断电并将 DM_IN 短接至 VBAT 的条件下测试

CH1 = 5V/div，CH2 = 5V/div，CH3 = 5V/div，10mS/div

图 3-10 在将 DM_IN 短接至 VBAT 然后上电的条件下测试

CH1 = 5V/div，CH2 = 5V/div，CH3 = 5V/div，CH3 = 5V/div，400mS/div

图 3-12 在将 DP_IN 短接至 VBAT 并上电，然后启用 EN 的条件下测试