ZHCACQ3A december   2019  – june 2023 TPS25830-Q1 , TPS25830A-Q1 , TPS25831-Q1 , TPS25840-Q1

 

  1.   1
  2.   TPS25830、TPS25831-Q1 和 TPS25840-Q1 的电池短路保护测试
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2电池短路的常规场景
    1. 2.1 使用外部 FET 时 VBUS/DP_IN/DM-IN 短接至 VBAT 的场景
      1. 2.1.1 VBUS 短接至 VBAT 的场景
      2. 2.1.2 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 的场景
      3. 2.1.3 VBUS/DP_IN/DP_IN 短接至 VBAT 的场景汇总
    2. 2.2 不使用外部 FET 时 VOUT/DP_IN/DM-IN 短接至 VBAT 的场景
      1. 2.2.1 VOUT/CSN 短接至 VBAT 的场景
      2. 2.2.2 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 的场景
      3. 2.2.3 VOUT/DP_IN/DP_IN 短接至 VBAT 的场景汇总
    3. 2.3 CC1/CC2 短接至 VBAT 的场景
  6. 3电池短路的特殊场景
    1. 3.1 使用外部 FET 时 VBUS/DP_IN/DM-IN 短接至 VBAT 的场景
      1. 3.1.1 VBUS 短接至 VBAT 的场景
      2. 3.1.2 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 的场景
      3. 3.1.3 VBUS/DP_IN/DM-IN 短接至 VBAT 的场景汇总
    2. 3.2 不使用外部 FET 时 VOUT/DP_IN/DM-IN 短接至 VBAT 的场景
      1. 3.2.1 VOUT 短接至 VBAT 的场景
      2. 3.2.2 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 的场景
      3. 3.2.3 VOUT/DP_IN/DM-IN 短接至 VBAT 的场景汇总
  7. 4电池短路时连接 TVS 的场景
    1. 4.1 VBUS 短接至 VBAT 时连接 TVS 的场景
    2. 4.2 VOUT 短接至 VBAT 时连接 TVS 的场景
    3. 4.3 DP/DM 短接至 VBAT 时连接 TVS 的场景
    4. 4.4 CC1/CC2 短接至 VBAT 时连接 TVS 的场景
  8. 5Revision History

DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 的场景

DP_IN/DM_IN 的 VBAT 短路保护功能由内部保护电路和外部电容 C3 实现(请参阅图 2-5)。当 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 时,部分电压尖峰被内部保护电路钳制,而另一部分则由外部 C3 通过内部二极管 Z1 或 Z2 吸收。同时,输出电容 C4 和 C2 也被充电,从而有效吸收电压尖峰。图 2-6 显示了测试结果。

GUID-6A8C3E3D-F187-49BD-87E0-189791509EC0-low.gif图 2-5 上电并将 DP_IN/DM_IN 短接至 VBAT 的测试设置
GUID-4C30C399-0A01-4D35-A060-8662528092F9-low.png
CH1 = 5V/div,CH2 = 5V/div,CH3 = 5V/div,1µS/div
图 2-6 在上电并将 DP_IN 短接至 VBAT 的条件下测试