5 总结

本应用手册说明了如何使用实际 HTOL 测试数据计算 BAW 振荡器的时基故障率。如上述计算所示，在 35°C 下使用时，BAW 振荡器时基故障率为 0.3，这对于所有晶体和基于 MEMS 的器件技术的振荡器来说都非常出色。时基故障率为 0.3 相当于 33 亿小时的 MTBF。典型的晶体振荡器时基故障率为 15 至 30，表示与具有相似规格的晶体振荡器相比，BAW 振荡器的可靠性得到了提高。