ZHCACV1 july   2023 LMK6C , LMK6D , LMK6H , LMK6P

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2测试标准和测试设置
    1. 2.1 测试标准
    2. 2.2 振动实验室中的测试设置
  6. 3正弦振动、随机振动和机械冲击测试
    1. 3.1 正弦振动测试
      1. 3.1.1 正弦振动测试过程
      2. 3.1.2 正弦振动测试的结果
    2. 3.2 随机振动测试
      1. 3.2.1 随机振动测试过程
      2. 3.2.2 随机振动测试的结果
    3. 3.3 机械冲击测试
      1. 3.3.1 机械冲击测试过程
      2. 3.3.2 机械冲击测试结果
  7. 4BAW 振荡器与晶体振荡器的振动性能比较
    1. 4.1 比较测试设置
    2. 4.2 对比测试结果
  8. 5总结
  9. 6参考文献

随机振动测试的结果

本节提供了随机振动测试之前、期间和之后捕获的图,测试按照 MIL-STD-883F 方法 2026C 进行。

图 3-15图 3-16 显示了 DLE 4 引脚 (LVCMOS) 振荡器 Z 轴运动的捕获数据。

GUID-20230626-SS0I-XP77-BK7X-XMWV90KCSGBP-low.png图 3-15 4 引脚 DLE (LVCMOS) 在振动测试前后的对比图
GUID-20230706-SS0I-PVGL-6JJG-DSGX26SVMJC2-low.png图 3-16 4 引脚 DLE (LVCMOS) 在振动期间的捕获数据

图 3-17图 3-18 显示了 DLE 6 引脚 (LVPECL) 振荡器 Z 轴运动的捕获数据。

GUID-20230626-SS0I-0GZN-7XNC-RX08CMZJHKHT-low.png图 3-17 6 引脚 DLE (LVPECL) 在振动测试前后的对比图
GUID-20230706-SS0I-XJWQ-VLXK-2KNZHCL2FXXG-low.png图 3-18 6 引脚 DLE (LVPECL) 在振动测试期间的捕获数据

前面的图表明,BAW 振荡器在振动期间和之后的性能很稳定,抖动性能未下降。