本节提供了随机振动测试之前、期间和之后捕获的图,测试按照 MIL-STD-883F 方法 2026C 进行。
图 3-15 和图 3-16 显示了 DLE 4 引脚 (LVCMOS) 振荡器 Z 轴运动的捕获数据。
图 3-15 4 引脚 DLE (LVCMOS) 在振动测试前后的对比图 图 3-16 4 引脚 DLE (LVCMOS) 在振动期间的捕获数据
图 3-17 和图 3-18 显示了 DLE 6 引脚 (LVPECL) 振荡器 Z 轴运动的捕获数据。
图 3-17 6 引脚 DLE (LVPECL) 在振动测试前后的对比图 图 3-18 6 引脚 DLE (LVPECL) 在振动测试期间的捕获数据
前面的图表明,BAW 振荡器在振动期间和之后的性能很稳定,抖动性能未下降。