ZHCADE7 November 2023 CDCE6214 , CDCE6214-Q1 , CDCE6214Q1TM , LMK00301 , LMK00304 , LMK00306 , LMK00308 , LMK00334 , LMK00334-Q1 , LMK00338 , LMK03318 , LMK03328 , LMK3H0102 , LMK6C , LMK6H , LMKDB1104 , LMKDB1108 , LMKDB1120 , LMKDB1202 , LMKDB1204
5 REFCLK 测量技术
为了测量 REFCLK 的性能，可以使用相位噪声分析仪 (PNA) 来测量抖动的频域，即相位噪声。可以将输出布线输出到文本文件，然后可以通过 PCIe 处理工具进行后处理。较新的 PNA（例如本文中使用的 R&S® FWSP）能够支持 SSC 和非 SSC 相位噪声数据收集，从而允许对展频时钟进行后处理。图 5-1 展示了 PNA 测量的测试设置。表 5-1 列出了 REFCLK 测量中使用的设备和器件。
图 5-1 PNA 测量的测试设置表 5-1 REFCLK 测量中使用的设备
| 低噪声源 | 受测器件 (DUT) | 平衡-非平衡变压器 | 测量设备 |
|---|---|---|---|
|
R&S® SMA100B Agilent E5052B |
LMK3H0102 LMKDB1120(1) |
Mini-Circuits® ADTL2-18 | R&S® FSWP(2) Agilent DSO80804B(3) |
(1) LMKDB1120 器件使用 R&S® SMA100B 作为 PCIe 测量的低噪声时钟源。使用低噪声源对于准确测量抖动至关重要。
(2) R&S® FSWP 用于频域测量。
(3) Agilent DSO80804B 用于时域测量。