3 电压 + IR 校正

电压 + IR 校正通过考虑对电池施加负载时发生的 IR 压降来对电压相关性进行扩展研究。IR 压降的大小取决于电池的内部阻抗、负载电流量和电池的温度。

图 3-1 电压 + IR 压降图

电压 + IR 校正的缺点是，由于内部阻抗增加，因此在测量老化的电池和/或电池暴露于低温时，这可能会产生更大的误差。不过，电压 + IR 校正功能改善了电压相关性的一些缺点。SoC 能够在放电结束时根据放电速率和温度进行调整。