ZHCADW5 November 2023 TAA5412-Q1 , TAC5311-Q1 , TAC5312-Q1 , TAC5411-Q1 , TAC5412-Q1
如前所述,器件中的大多数锁存寄存器在读取后会自行清除和复位。然而,某些寄存器存在映射,因而只有在读取另一个锁存寄存器时才会清除这些寄存器。表现出此行为的寄存器在寄存器映射中包含一个描述,指明需要读取寄存器才能清除该位。此行为适用于通道锁存寄存器中的 INxM 短接至 VBAT_IN 故障以及 INT_LTCH1 中的 INxP 和 INxM 过压状态位。建议在检测到故障时读取所有锁存寄存器,以便验证所有位是否都已清除。为了验证没有遗漏故障,节 7.3提供了建议的读取序列。