ZHCADW6 June 2023 TMS570LC4357-SEP
在 SEL 表征期间,使用强制热空气对器件进行加热,从而将 IC 温度保持在 125°C 温度。通过 K 型热电偶监测了温度,该热电偶连接在尽可能靠近 IC 的位置。用于 SEL 测试的物类是银 (47Ag) 离子,在 LETEFF = 48MeV-cm2/mg 时,入射角为 0°。该离子真空中的动能为 1.634GeV(15MeV/amu 线)。两次照射行程使用了大约 105 个离子/s-cm2 的注量率和大约 107 个离子/cm2 的通量。电源电压以表 3-1 中所述的建议最大电压设置从外部提供。实现该通量的照射持续时间大约为 {2} 分钟。
照射行程 | 距离 (mm) | 温度 (°C) | 离子 | 角度 | 注量率(离子.cm2/mg) | 通量(离子/cm2) | LETeff (MeV.cm2/mg) |
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{2} | 40 | 125 | 47Ag | 0° | 1.00E+05 | 1.00E+07 | 48 |
图 5-1 所示为电源电流随时间变化的曲线图。可以看到,未在照射行程中观察到 SEL 事件。
电源 | 偏置 |
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VCCAD | 5.25V |
VCCIO | 3.6V |
VCC(core) | 1.32V |
照射前后未检测到与闩锁事件一致的电流显著增加。