ZHCADW6 June   2023 TMS570LC4357-SEP

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2SEE 机制
  6. 3测试器件信息
  7. 4辐照设施和设置
  8. 5SEL 结果
  9. 6总结
  10.   参考文献

参考文献

  1. M. Shoga 和 D. Binder,“Theory of Single Event Latchup in Complementary Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits”,IEEE Trans. Nulc. Sci.,33 卷,1986 年 12 月,1714-1717 页。
  2. G. Bruguier 和 J.M.Palau,“Single particle-induced latchup”,IEEE Trans.Nulc.Sci.,43(2) 卷,1996 年 3 月,522-532 页。
  3. TAMU 辐射效应设施网站。http://cyclotron.tamu.edu/ref/
  4. “The Stopping and Range of Ions in Matter”(SRIM) 软件仿真工具网站。www.srim.org/index.htm#SRIMMENU
  5. D.Kececioglu,“Reliability and Life Testing Handbook”,1 卷,PTR Prentice Hall,New Jersey,1993 年,186-193 页。
  6. ISDE CRÈME-MC 网站。https://creme.isde.vanderbilt.edu/CREME-MC
  7. A. J. Tylka、J. H. Adams、P. R. Boberg 等,“CREME96: A Revision of the Cosmic Ray Effects on Micro-Electronics Code”,IEEE Trans.Nulc.Sci.,44(6) 卷,1997 年 12 月,2150-2160 页。
  8. A. J. Tylka, W. F. Dietrich, and P. R. Boberg, “Probability distributions of high-energy solar-heavy-ion fluxes from IMP-8: 1973-1996”,IEEE Trans.Nulc.Sci.,44(6) 卷,1997 年 12 月,2140-2149 页。