ZHCADW6 June 2023 TMS570LC4357-SEP
TMS570LC4357-SEP 是一款基于 Arm Cortex-R 的高性能微控制器，具有片上诊断特性，具体包括：两个 CPU 采用锁步运行；针对 CPU、N2HET 协处理器以及片上 SRAM 的内置自检 (BIST) 逻辑；L1 高速缓存、L2 闪存和 SRAM 存储器具有 ECC 保护。该器件还为外设存储器提供了 ECC 或奇偶校验保护，外设 I/O 上具有环回功能。
该器件集成了两个 ARM Cortex-R5F 浮点 CPU，该 CPU 采用锁步运行，并提供了高效的 1.66DMIPS/MHz 速率，运行频率高达 300MHz，从而提供高达 498 DMIPS 的计算能力。该器件支持大端字节序 [BE32] 格式。
TMS570LC4357-SEP 器件具有集成的安全特性和各种通信和控制外设，非常适合用于具有安全关键要求的高性能实时控制应用。
https://www.ti.com/product/TMS570LC4357
| 说明 | 器件信息 |
|---|---|
| TI 器件型号 | TMS570LC4357-SEP |
| 器件功能 | 基于 Arm Cortex-R 的微控制器 |
| 封装 | 337 GWT (nFBGA) |
| 技术 | 12F021.M7C |
| 曝光设施 | 德克萨斯 A&M 大学加速器研究所辐射效应设施 |
| 每次运行的重离子通量 | 1 x 106 - 1 x 107 个离子/cm2 |
| 辐照温度 | 125°C（用于 SEL 测试） |