4 C2000™ 提供的 UL/IEC 60730-1/60335-1 诊断库

安全标准的要求几乎是统一的，但不同认证机构的理解和要求有所不同。因此，TI 针对这些标准中的 MCU 部分提供了非常成熟的诊断库，让工程师可以根据机构的具体要求进行库的调用。为了满足 IEC/UL 60730-1/60335-1 的测试要求，通常会在上电或复位后执行一轮自检，并在应用程序正常运行后执行定期自检。图 4-1 显示了常用的自检软件结构。

图 4-1 常用的自检软件结构

上电后，当 MCU 初始化完成时，会执行一轮自检，包括栈溢出检测、看门狗测试、CPU 和 FPU 寄存器测试、PC 测试、时钟测试、RAM 测试 (March13N)、闪存测试（CRC 或 ECC）、ADC 测试，等等。系统功能进入运行状态后，会执行定期自检。上电检测和定期检测之间的主要区别在于栈和看门狗。栈溢出检测由硬件触发，可在上电检测中进行配置。看门狗检测只需在上电检测期间执行一次，因为在程序运行时会定期馈送看门狗。

TI 的 C2000ware SDK 提供与前述 MCU 的自检相关的软件诊断库。以 F280013x 为例，代码位于 C2000Ware_x_0x_00_00\libraries\diagnostic\f280013x，示例工程位于 f280013x \examples\test_application。为了帮助工程师更好地理解 C2000 MCU 自检的原理和方法，还为了便于将所需的源代码应用到系统工程中，以及与安全认证机构进行通信和确认，下面将详细介绍每个自检项。