ZHCAE28 May   2024 TMS320F2800132 , TMS320F2800133 , TMS320F2800135 , TMS320F2800137 , TMS320F2800152-Q1 , TMS320F2800153-Q1 , TMS320F2800154-Q1 , TMS320F2800155 , TMS320F2800155-Q1 , TMS320F2800156-Q1 , TMS320F2800157 , TMS320F2800157-Q1 , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2电器中的 C2000™ MCU 器件概述
  6. 3IEC/UL 60730-1/60335-1 标准简介
  7. 4C2000™ 提供的 UL/IEC 60730-1/60335-1 诊断库
    1. 4.1 栈溢出检测
    2. 4.2 看门狗
    3. 4.3 CPU 和 FPU 寄存器
    4. 4.4 程序计数器 (PC)
    5. 4.5 时钟
    6. 4.6 RAM
    7. 4.7 闪存
    8. 4.8 ADC
    9. 4.9 周期时间和存储器用量
  8. 5参考文献

周期时间和存储器用量

表 4-1 列出了主要的自检项,以及相应函数的存储器用量和执行周期数。

表 4-1 周期时间和存储器用量
API 存储器
(16 位字)
通过周期数
(RAM)

CPU

STL_CPU_REG_testCPURegisters

205

652

FPU

STL_CPU_REG_testFPURegisters

106

287

时钟

STL_OSC_CT_startTest 和 STL_OSC_CT_stopTest

96

145

RAM

STL_March_testRAMCopy(16 字)

47

501

闪存 (CRC)

STL_CRC_checkCRC(32 字)

36

234

闪存 (ECC)

RunECCErrorTest

67

276

其中,RAM 和闪存 (CRC) 仅列出 16 字和 32 字的通过周期。完整 RAM 和闪存 (CRC) 测试需要考虑总的测试存储器空间和自检执行周期。闪存 (ECC) 在一轮自检中只需要执行一次,这就是闪存 (ECC) 可以显著减少 CPU 使用自检功能的原因。