此函数测试 CPU 内核寄存器和 FPU 寄存器是否存在卡滞位。接受测试的 CPU 寄存器包括：ACC、P、XAR0 至 XAR7、XT、SP、IFR、IER、DBGIER、ST0、ST1（不包括 IDLESTAT 和 LOOP 位）和 DP。接受测试的 FPU 寄存器包括：R0 至 R7、RND32、TF、ZI、NI、ZF、STF 寄存器 NF 位、R0 至 R7 影子寄存器和 STF。在此测试中会保存和恢复 ST0、ST1、DP、IER、IFR、DBGIER、入口保存 XAR 寄存器、STF 和入口保存 RnH 寄存器（由编译器调用约定所定义）的值。在调用 CPU 和 FPU 测试 API 前禁用中断。

CPU 和 FPU 的自检非常相似。首先，根据机构的要求，将测试模式设置为一个特定的值，例如 0XAAAA。在测试期间，CPU 和 FPU 寄存器数据需要存储在栈中，然后会将测试模式写入 CPU 和 FPU 寄存器。读取这些寄存器的数据后，会验证数据是否与预设测试模式匹配。最后，CPU 和 FPU 寄存器数据从栈中恢复，并完成 CPU 或 FPU 的寄存器自检。test_application 工程包含适用于 CPU 和 FPU 自检的相应案例，即 STA_CPU_REG 和 STA_FPU_REG，其中的测试函数为 STL_CPU_REG_testCPURegisters(bool injectError) 和 STL_CPU_REG_testFPURegisters(bool injectError)。两个函数都由汇编代码组成，源代码位于 f280013x\source\stl_cpu_reg.asm。图 4-4 显示了 CPU 和 FPU 寄存器测试结构。

图 4-4 CPU、FPU 寄存器测试结构

请注意，设置 INTM 不会阻止中断传播到 IFR 寄存器，因此虽然该函数会保存和恢复 IFR，但在此测试期间到达 IFR 的中断会通过恢复操作清除，否则可能导致此测试失败。如果需要在运行时期间使用此测试，则可以修改 stl_cpu_reg.asm 中的 STL_CPU_REG_testCPURegisters() 以删除 IFR 测试（以及相关的保存和恢复）。或者，在 PIE 级 (PIEIER) 禁用所有中断，在非 PIE 中断的情况下（例如 CPU 计时器 1 和 2）则在外设级禁用中断，并在 STL_CPU_REG_checkCPURegisters() 完成后恢复中断。也可以删除 IFR 测试部分，这对于某些认证机构也是可以接受的。