ZHCAE59 June   2024 AM623 , AM625

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2基于设计的方法
  6. 3后台
    1. 3.1 流程交付套件 (PDK)
    2. 3.2 电路行为的 SPICE 模型
    3. 3.3 电子设计自动化 (EDA) 工具
    4. 3.4 封装可靠性
  7. 4基于设计的方法与 HTOL 方法的比较
  8. 5AM625/623 寿命可靠性分析结果
  9. 6结语
  10. 7修订历史记录
  11.   A 附录 – 基于 HTOL 的方法
  12.   B 附录 – EM 可靠性估算的数学基础

流程交付套件 (PDK)

设计流程的主干是在技术节点的流程交付套件 (PDK) 中定义的。从可靠性角度来看,一旦定义了硅晶圆制造工艺基线流程,晶圆厂就可以实现元件级可靠性。这些测试评估可能有效限制最终米6体育平台手机版_好二三四使用寿命的潜在内在磨损机制。通常,测试速度非常快,这意味着应力条件要比最终米6体育平台手机版_好二三四应用使用条件更为苛刻,并且要进行故障测试以确定可靠性模型的特征(可能需要测试多个应力条件来定义加速模型)。每项测试都有明确的通过/不通过标准,与硅技术的总体可靠性目标相符。至关重要的是,元件级测试可在比 HTOL 测试高得多的应力级别下执行,从而实现细粒度可靠性模型(需要观察故障情况)并缩短执行时间。