ZHCAE72 July 2024 TLV62095
引脚失效模式分析（引脚 FMA）
本部分介绍了 TLV62095 引脚的故障模式分析 (FMA)。本文档所涉及的失效模式包括各个引脚的典型失效场景：
根据表 1 中的失效影响分类，表 2 至表 5 还介绍了这些引脚状况对器件的影响。
表 1 失效影响分类
| 类别 | 失效影响 |
|---|---|
| A | 器件可能会损坏，并使功能受损。 |
| B | 器件未损坏，但功能丧失。 |
| C | 器件未损坏，但性能下降。 |
| D | 器件未损坏，功能和性能也未受到影响。 |
表 2 展示了 TLV62095 引脚图。有关器件引脚的详细说明，请参阅 TLV62095 采用 DCS-Control 技术的 4A 高效降压转换器数据表 中的引脚配置和功能 部分。
图 2 引脚图外露散热焊盘连接到 AGND。
以下述是本章节针对引脚 FMA 的使用假设和器件配置：
- 该器件在典型应用中运行，请参阅 TLV62095 采用 DCS-Control 技术的 4A 高效降压转换器数据表 第一页上的应用 部分。
表 2 器件引脚对地短路的引脚 FMA
| 引脚名称 | 引脚编号 | 潜在失效影响说明 | 失效影响类别 |
|---|---|---|---|
| SW | 1、2 | 潜在器件内部损坏 | A |
| DEF | 3 | 不同的开关频率导致器件功能不正确 | B |
| PG | 4 | 对器件没有影响 | D |
| FB | 5 | 反馈路径缺失导致器件功能不正确 | B |
| AGND | 6 | 预期连接 | D |
| CP | 7 | 对器件可靠性的潜在影响；潜在器件内部损坏 | A |
| CN | 8 | 对器件可靠性的潜在影响；潜在器件内部损坏 | A |
| SS | 9 | 器件功能不正确；器件无法启动 | B |
| AVIN | 10 | 潜在损坏 | A |
| PVIN | 11，12 | 潜在损坏 | A |
| EN | 13 | 器件被禁用 | D |
| PGND | 14，15 | 预期连接 | D |
| VOS | 16 | 降低了瞬态性能；不提供输出放电；降低了电流限制 | B |
表 3 器件引脚开路的引脚 FMA
| 引脚名称 | 引脚编号 | 潜在失效影响说明 | 失效影响类别 |
|---|---|---|---|
| SW | 1 | 通过引脚 (2) 的电流增加；可能对器件可靠性产生影响；潜在损坏 | A |
| SW | 2 | 通过引脚 (1) 的电流增加；可能对器件可靠性产生影响；潜在损坏 | A |
| DEF | 3 | 不同的开关频率导致器件功能不正确 | B |
| PG | 4 | 预期运行（未使用 PG 时） | D |
| FB | 5 | 反馈路径缺失导致器件功能不正确 | B |
| AGND | 6 | 由于 AGND 连接缺失，器件功能不正确 | B |
| CP | 7 | 器件功能不正确 | B |
| CN | 8 | 器件功能不正确 | B |
| SS | 9 | 预期运行；设置最短软启动时间（典型值 50us） | D |
| AVIN | 10 | 器件不起作用 | B |
| PVIN | 11 | 通过引脚 (12) 的电流增加；可能对器件可靠性产生影响；潜在器件内部损坏 | A |
| PVIN | 12 | 通过引脚 (11) 的电流增加；可能对器件可靠性产生影响；潜在器件内部损坏 | A |
| EN | 13 | 预期运行；内部下拉电阻将此引脚保持为低电平；器件被禁用。 | D |
| PGND | 14 | 通过引脚 (15) 的电流增加；可能对器件可靠性产生影响；潜在器件内部损坏 | A |
| PGND | 15 | 通过引脚 (14) 的电流增加；可能对器件可靠性产生影响；潜在器件内部损坏 | A |
| VOS | 16 | 降低了瞬态性能；不提供输出放电；可能会降低电流限制 | B |
表 4 器件引脚对邻近引脚短路的引脚 FMA
| 引脚名称 | 引脚编号 | 短路至 | 引脚编号 | 潜在失效影响说明 | 失效影响类别 |
|---|---|---|---|---|---|
| SW | 1 | SW | 2 | 预期连接 | D |
| SW | 2 | DEF | 3 | 由于可能违反引脚 (3) 的绝对最大电压额定值，可能造成器件内部损坏 | A |
| DEF | 3 | PG | 4 | 由于可能违反引脚 (3) 的绝对最大电压额定值，可能造成器件内部损坏 | A |
| PG | 4 | FB | 5 | 反馈路径受到干扰导致器件功能不正确；由于可能违反引脚 (5) 的绝对最大电压额定值，可能造成器件内部损坏 | A |
| FB | 5 | AGND | 6 |
反馈路径缺失导致器件功能不正确。 |
B |
| AGND | 6 | CP | 7 | 对器件可靠性的潜在影响；潜在器件内部损坏 | A |
| CP | 7 | CN | 8 | 器件功能不正确；可能对器件可靠性产生影响 | A |
| CN | 8 | SS | 9 | 器件功能不正确 | B |
| SS | 9 | AVIN | 10 | 设置最短软启动时间（典型值 50us） | B |
| AVIN | 10 | PVIN | 11 | 由于 PVIN 引脚上的振铃增加了对 AVIN 电源的干扰，器件功能可能不正确 | B |
| PVIN | 11 | PVIN | 12 | 预期连接 | D |
| PVIN | 12 | EN | 13 | 预期连接；VIN > UVLO 时启用器件 | D |
| EN | 13 | PGND | 14 | 预期运行；器件被禁用。 | D |
| PGND | 14 | PGND | 15 | 预期连接 | D |
| PGND | 15 | VOS | 16 | 输出接地短路，器件不工作 | B |
| VOS | 16 | SW | 1 | 器件功能不正确 | B |
表 5 器件引脚对 VIN 短路的引脚 FMA
| 引脚名称 | 引脚编号 | 潜在失效影响说明 | 失效影响类别 |
|---|---|---|---|
| SW | 1、2 | 潜在器件内部损坏 | A |
| DEF | 3 | 预期运行；标称开关频率设置为 1.4MHz | D |
| PG | 4 | 潜在器件内部损坏 | A |
| FB | 5 | 反馈路径缺失导致器件功能不正确。 | B |
| AGND | 6 | 内部损坏 | A |
| CP | 7 | 对器件可靠性的潜在影响；潜在器件内部损坏 | A |
| CN | 8 | 对器件可靠性的潜在影响；潜在器件内部损坏 | A |
| SS | 9 | 设置最短软启动时间（典型值 50us） | D |
| AVIN | 10 | 预期连接 | D |
| PVIN | 11，12 | 预期连接 | D |
| EN | 13 | 预期运行；器件始终启用 | D |
| PGND | 14，15 | 潜在损坏 | A |
| VOS | 16 | 潜在器件内部损坏 | A |