ZHCAEE1A August   2024  – October 2024 DP83822I , DP83826E , DP83826I , DP83867E , DP83867IR , DP83869HM

 

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  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1缩写
  5. 2引言
  6. 3EMC 发射
    1. 3.1 辐射发射
      1. 3.1.1 辐射发射测试的测试设置
      2. 3.1.2 主要辐射发射源
    2. 3.2 传导发射
      1. 3.2.1 传导发射测试的测试设置
      2. 3.2.2 主要传导发射源
    3. 3.3 有关 EMC 发射的调试程序
      1. 3.3.1 一般调试程序
      2. 3.3.2 特定于 RE 的调试
      3. 3.3.3 特定于 CE 的调试
  7. 4EMC 抗扰度测试
    1. 4.1 EMI 通过标准
    2. 4.2 EMI 常识
    3. 4.3 IEC61000 4-2 ESD
      1. 4.3.1 ESD 测试设置
      2. 4.3.2 可能的故障根本原因
      3. 4.3.3 调试程序
        1. 4.3.3.1 遵循测试设置
        2. 4.3.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.3.3.3 为改进 ESD 性能应探索的领域
          1. 4.3.3.3.1 空气耦合或电容耦合放电 ESD 建议
          2. 4.3.3.3.2 直接接触放电 ESD 建议
        4. 4.3.3.4 原理图和布局建议
    4. 4.4 IEC 61000 4-3 RI
      1. 4.4.1 RI 测试设置
      2. 4.4.2 可能的故障根本原因
      3. 4.4.3 调试程序
        1. 4.4.3.1 遵循 RI 测试设置
        2. 4.4.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.4.3.3 找出主要发射区域
        4. 4.4.3.4 原理图和布局建议
    5. 4.5 IEC 61000 4-4 EFT
      1. 4.5.1 EFT 测试设置
      2. 4.5.2 可能的故障根本原因
      3. 4.5.3 调试程序
        1. 4.5.3.1 遵循 EFT 测试设置
        2. 4.5.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.5.3.3 为改进 EFT 性能应探索的领域
        4. 4.5.3.4 原理图和布局建议
    6. 4.6 IEC 61000 4-5 浪涌
      1. 4.6.1 浪涌测试设置
      2. 4.6.2 可能的故障根本原因
      3. 4.6.3 调试程序
        1. 4.6.3.1 遵循浪涌测试设置
        2. 4.6.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.6.3.3 为改进浪涌性能应探索的领域
        4. 4.6.3.4 原理图和布局建议
    7. 4.7 IEC 61000 4-6 CI
      1. 4.7.1 CI 测试设置
      2. 4.7.2 可能的故障根本原因
      3. 4.7.3 调试程序
        1. 4.7.3.1 遵循 CI 测试设置
        2. 4.7.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.7.3.3 为改进 CI 性能应探索的领域
        4. 4.7.3.4 原理图和布局建议
  8. 5所有 EMC、EMI 测试的原理图和布局建议
    1. 5.1 原理图建议
    2. 5.2 布局建议
  9. 6总结
  10. 7参考资料
  11. 8修订历史记录

找出主要发射区域

如果上述测试仍然失败,则很有可能是 DUT 电路板出现问题。进一步的措施是用铜带盖住或屏蔽电路板上最容易受到干扰的区域。铜带需要与大地紧密连接,以便铜带能够吸收大部分发射噪声。如果铜带未正确连接大地,则铜带可能会作为天线源,放大覆盖区域的信号:

  • 如果不使用 MAC 进行测试,则需要对 MAC 引脚周围进行屏蔽,以便更大限度地减少 MAC 引脚暴露于辐射源
  • 通过大地屏蔽 MDI 线路周围的区域。如果覆盖 MDI 线路对 RI 测试性能有帮助,那么可以遵循以下一些建议来进一步改进 MDI 线路:
    • 尽量减少 MDI 线路周围的过孔
    • 更大限度减少 MDI 线路上的元件或外露焊盘数量
    • 如果可能,在 RI 测试期间掩埋 MDI 布线
    • MDI 线路的对称性
  • 屏蔽 Rbias 引脚和布线周围的区域。如果覆盖 Rbias 引脚和布线对 RI 性能有帮助,请遵循以下建议:
    • Rbias 是用于在内部驱动 PHY 的基准电流。在 Rbias 区域周围采用更优布局有助于改善 RI 测试性能
    • 将 Rbias 布线埋在内层中
    • 更大限度地减少 Rbias 周围的过孔
    • 更大限度地减小 Rbias 元件尺寸
  • 屏蔽振荡器或时钟信号,看看这样是否有助于改善 RI 性能
  • 在电力线周围实施屏蔽,看看这样是否有助于改善 RI 性能