ZHCAEE1A August 2024 – October 2024 DP83822I , DP83826E , DP83826I , DP83867E , DP83867IR , DP83869HM
在 ESD 测试中,尤其是接触放电测试中,大多数 ESD 噪声直接注入到连接器屏蔽层中。因为这也是系统的连接器地,因此接地反弹可能也会产生影响。这会导致共模噪声注入系统。因此,为 ESD 噪声提供一条低阻抗接地路径,这对于更大限度地减小对信号线路的影响并提高 ESD 性能至关重要。
在直接接触和间接接触 ESD 测试中,辐射 ESD 噪声可能会耦合到系统。因此,确认信号线路的传导暴露最小,这对于提高 ESD 性能也至关重要。