ZHCAEE1A August 2024 – October 2024 DP83822I , DP83826E , DP83826I , DP83867E , DP83867IR , DP83869HM
EMC 抗扰度测试也称为电磁干扰 (EMI),这是一个测试标准,用于定义器件对由外部源引起的电路干扰的耐受能力。由于周围的干扰,EMI 可能会导致数据包中断、性能下降,甚至导致系统中的链路丢失。为了确认电子器件在实时应用中能够有效抵御外部噪声源,在器件生产之前通常需要满足 EMI 测试要求。
EMI 可能由人为因素和自然来源引起,包括蜂窝网络、照明设备、无线电环境等。一个常见的人为干扰例子是 ESD 噪声,这种噪声由人与器件接触而产生,可能会对电子器件造成干扰。自然来源的一个例子是手机;电话通话可能会对飞机上的敏感设备造成干扰。在工业应用中,大多数电子器件直接暴露在环境中。因此,在非封闭架构中,需要更高标准的 EMI 测试。
EMI 测试标准主要由 IEC61000 4-X 定义。IEC61000-4-X 用于测试系统级抗扰度。许多系统设计需要按照 IEC 61000-4-X 规范中列出的一项或多项测试要求进行。以下各节介绍了以太网应用的五种常见测试: