ZHCAEE1A August   2024  – October 2024 DP83822I , DP83826E , DP83826I , DP83867E , DP83867IR , DP83869HM

 

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  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1缩写
  5. 2引言
  6. 3EMC 发射
    1. 3.1 辐射发射
      1. 3.1.1 辐射发射测试的测试设置
      2. 3.1.2 主要辐射发射源
    2. 3.2 传导发射
      1. 3.2.1 传导发射测试的测试设置
      2. 3.2.2 主要传导发射源
    3. 3.3 有关 EMC 发射的调试程序
      1. 3.3.1 一般调试程序
      2. 3.3.2 特定于 RE 的调试
      3. 3.3.3 特定于 CE 的调试
  7. 4EMC 抗扰度测试
    1. 4.1 EMI 通过标准
    2. 4.2 EMI 常识
    3. 4.3 IEC61000 4-2 ESD
      1. 4.3.1 ESD 测试设置
      2. 4.3.2 可能的故障根本原因
      3. 4.3.3 调试程序
        1. 4.3.3.1 遵循测试设置
        2. 4.3.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.3.3.3 为改进 ESD 性能应探索的领域
          1. 4.3.3.3.1 空气耦合或电容耦合放电 ESD 建议
          2. 4.3.3.3.2 直接接触放电 ESD 建议
        4. 4.3.3.4 原理图和布局建议
    4. 4.4 IEC 61000 4-3 RI
      1. 4.4.1 RI 测试设置
      2. 4.4.2 可能的故障根本原因
      3. 4.4.3 调试程序
        1. 4.4.3.1 遵循 RI 测试设置
        2. 4.4.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.4.3.3 找出主要发射区域
        4. 4.4.3.4 原理图和布局建议
    5. 4.5 IEC 61000 4-4 EFT
      1. 4.5.1 EFT 测试设置
      2. 4.5.2 可能的故障根本原因
      3. 4.5.3 调试程序
        1. 4.5.3.1 遵循 EFT 测试设置
        2. 4.5.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.5.3.3 为改进 EFT 性能应探索的领域
        4. 4.5.3.4 原理图和布局建议
    6. 4.6 IEC 61000 4-5 浪涌
      1. 4.6.1 浪涌测试设置
      2. 4.6.2 可能的故障根本原因
      3. 4.6.3 调试程序
        1. 4.6.3.1 遵循浪涌测试设置
        2. 4.6.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.6.3.3 为改进浪涌性能应探索的领域
        4. 4.6.3.4 原理图和布局建议
    7. 4.7 IEC 61000 4-6 CI
      1. 4.7.1 CI 测试设置
      2. 4.7.2 可能的故障根本原因
      3. 4.7.3 调试程序
        1. 4.7.3.1 遵循 CI 测试设置
        2. 4.7.3.2 消除电缆或链路伙伴上的外部因素
        3. 4.7.3.3 为改进 CI 性能应探索的领域
        4. 4.7.3.4 原理图和布局建议
  8. 5所有 EMC、EMI 测试的原理图和布局建议
    1. 5.1 原理图建议
    2. 5.2 布局建议
  9. 6总结
  10. 7参考资料
  11. 8修订历史记录

IEC 61000 4-5 浪涌

IEC61000-4-5 也称为浪涌抗扰度测试,主要测试电气设备对由开关过压或瞬变引起的单向浪涌的抗扰度。与 ESD 和 EFT 测试不同,浪涌测试涉及到将高能量或大功率脉冲注入系统。与 ESD 和 EFT 测试的纳秒脉冲范围不同,这些脉冲处于毫秒范围内。浪涌测试是为了评估电气设备在承受高能脉冲时不对器件或系统应用造成任何损坏的能力。在浪涌注入后,系统需要在不进行任何下电上电或硬件复位的情况下自动恢复。与不允许在系统中发生数据包错误或丢失的其他 EMI 测试不同,浪涌测试主要关注 B 类性能。因此,允许出现数据包错误或丢失,但 PHY 必须自动自行恢复。

在 IEC61000 4-5 浪涌测试标准中为以下情况定义了不同的测试:开路、短路和电信端口。开路和短路测试主要用于电源浪涌测试。节 5 测试可提升电源电路性能。但是,电源 EMC 测试取决于除以太网以外的电源 IC。因此,我们可以主要关注信号端口的浪涌测试。

在信号或电信端口浪涌测试中,屏蔽和非屏蔽电缆有不同的测试设置。以下是两种测试设置之间的差异:

上述两种类型的浪涌测试设置均模拟现实场景。与屏蔽电缆浪涌测试相比,非屏蔽电缆浪涌测试通常性能较差。这是由于噪声直接注入电缆而造成。此外,浪涌测试要向系统注入高功率噪声。在设计中,并不总是建议使用一条潜在路径将高功率噪声注入信号线。在工业应用中,大多数客户使用屏蔽电缆。以下部分重点介绍屏蔽电缆或线对地浪涌测试。

浪涌测试级别:

  • 1 级:±0.5kV(线对线),±1kV(线对地)
  • 2 级:±1kV(线对线),±2kV(线对地)
  • 3 级:±2kV(线对线),±4kV(线对地)
注: A 类、B 类和 C 类取决于客户的要求。通常,工程师都希望在浪涌测试中实现 B 类性能。浪涌测试的目的是,确认向系统注入大量能量后系统可以自动恢复。

通常,线对地浪涌测试的通过级别高于线对线浪涌测试。

浪涌波形:

对于信号和电信端口浪涌测试,脉冲宽度为 1.4ms,前沿时间为 10us。该脉冲是注入系统的高功率脉冲:

 浪涌测试波形图 4-8 浪涌测试波形