1 引言

1992 年 8 月，日本科学家 Takeo Iguchi 发表了一篇论文，讨论了使用 SDI 数据扰频器时的两个主要问题。第一个问题是低频成分可能导致直流偏移。第二个问题是具有长运行长度的数据模式可能导致 PLL 无法检测到数据转换。Iguchi 提出了一种方法来生成最不理想但仍可能出现的信号，并将其作为测试信号通过 SDI 通道。在这种情况下，为了重现这种不理想效果，活动行期间使用了 10 位的 0x300h 和随后 0x198h 的值，同时排除了 EAV、SAV 和辅助数据。

由于 SDI 的 NRZI 数据模式和扰频器公式，病态模式可能会生成一长串的 0 或 1。一长串的 0 或 1 会导致包络或直流偏移。通过使用较大的耦合电容值，可以消除这种直流偏移。RP178 SMPTE 规范是唯一描述使用 SMPTE159M/259M/244M 扰频器发生这种情况的 SMPTE 文档。在这些 SMPTE 规范中，该应力模式用于生成最大直流分量/偏移。通过在活动行期间连续应用 300h、198h 序列，当扰频器获得所需的起点或种子后，可以重复生成 19 个 1 (0) 接 1 个 0 (1) 状态的信号。

如前所述，可以使用容值较大的交流耦合电容器来消除病态数据模式导致的这种直流偏移。ST-292 和 ST-424 以及更高的数据速率中，要求直流漂移不超过 50mV。旧版 SDI 发生器使用纳法拉级的较小交流耦合电容值。在图 1-1 中，测得的直流漂移约为 152mV。

图 1-1 270Mbps 下病态模式导致的直流漂移