ZHCAEO8B March   2022  – November 2024 AM620-Q1 , AM623 , AM625 , AM625-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1概述
    1. 1.1 支持的电路板设计
    2. 1.2 通用电路板布局布线指南
    3. 1.3 PCB 堆叠
    4. 1.4 旁路电容器
      1. 1.4.1 大容量旁路电容器
      2. 1.4.2 高速旁路电容器
      3. 1.4.3 返回电流旁路电容器
    5. 1.5 速度补偿
  5. 2DDR4 电路板设计和布局布线指南
    1. 2.1  DDR4 简介
    2. 2.2  受支持的 DDR4 器件的实现
    3. 2.3  DDR4 接口原理图
      1. 2.3.1 采用 16 位 SDRAM 器件的 DDR4 实现
      2. 2.3.2 采用 8 位 SDRAM 器件的 DDR4 实现
    4. 2.4  兼容的 JEDEC DDR4 器件
    5. 2.5  放置
    6. 2.6  DDR4 禁止区域
    7. 2.7  DBI
    8. 2.8  VPP
    9. 2.9  网类别
    10. 2.10 DDR4 信号端接
    11. 2.11 VREF 布线
    12. 2.12 VTT
    13. 2.13 POD 互连
    14. 2.14 CK 和 ADDR_CTRL 拓扑与布线指南
    15. 2.15 数据组拓扑与布线指南
    16. 2.16 CK 和 ADDR_CTRL 布线规格
      1. 2.16.1 CACLM - 时钟地址控制最大曼哈顿距离
      2. 2.16.2 CK 和 ADDR_CTRL 布线限值
    17. 2.17 数据组布线规格
      1. 2.17.1 DQLM - DQ 最大曼哈顿距离
      2. 2.17.2 数据组布线限值
    18. 2.18 位交换
      1. 2.18.1 数据位交换
      2. 2.18.2 地址和控制位交换
  6. 3LPDDR4 电路板设计和布局布线指南
    1. 3.1  LPDDR4 简介
    2. 3.2  受支持的 LPDDR4 器件的实现
    3. 3.3  LPDDR4 接口原理图
    4. 3.4  兼容的 JEDEC LPDDR4 器件
    5. 3.5  放置
    6. 3.6  LPDDR4 禁止区域
    7. 3.7  LPDDR4 DBI
    8. 3.8  网类别
    9. 3.9  LPDDR4 信号端接
    10. 3.10 LPDDR4 VREF 布线
    11. 3.11 LPDDR4 VTT
    12. 3.12 CK0 和 ADDR_CTRL 拓扑
    13. 3.13 数据组拓扑
    14. 3.14 CK0 和 ADDR_CTRL 布线规格
    15. 3.15 数据组布线规格
    16. 3.16 字节和位交换
  7. 4LPDDR4 电路板设计仿真
    1. 4.1 电路板模型提取
    2. 4.2 电路板模型验证
    3. 4.3 S 参数检查
    4. 4.4 时域反射法 (TDR) 分析
    5. 4.5 系统级仿真
      1. 4.5.1 仿真设置
      2. 4.5.2 仿真参数
      3. 4.5.3 仿真目标
        1. 4.5.3.1 眼图质量
        2. 4.5.3.2 延迟报告
        3. 4.5.3.3 模板报告
    6. 4.6 设计示例
      1. 4.6.1 堆叠
      2. 4.6.2 布线
      3. 4.6.3 模型验证
      4. 4.6.4 仿真结果
  8. 5附录:AM62x ALW 和 AMC 封装延迟
  9. 6修订历史记录

仿真设置

通过连接 SOC IBIS 模型、电路板模型、电源、DRAM 封装模型和 DRAM IBIS 模型,在仿真器中建立系统级原理图。图 4-2所示为典型的系统级 DDR 原理图。

注: 在建立系统原理图时,请注意 DRAM 配置(封装中的芯片数量、列数和通道数)。请注意,DRAM 配置可能还包括片上去耦电路。
 典型的系统级 DDR 原理图图 4-2 典型的系统级 DDR 原理图
  • LPDDR4 仿真需要针对控制器和存储器的功率感知 IBIS 模型以及支持 DDR 接口通道仿真的仿真器。
  • 基于 SPICE 的晶体管级仿真不能用于生成 BER 信号眼图。使用可以处理功率感知 IBIS 仿真并能够为 DDR 接口运行通道仿真的仿真器。
  • 与基于 SPICE 的晶体管级仿真相比,IBIS 模型减少了仿真时间,同时精度损失极小。从 5.0 版开始的 IBIS 模型是功率感知模型,可实现同步开关输出 (SSO) 噪声仿真。TI IBIS 模型是一种功率感知 IBIS 模型。
  • 使用 SPICE 模型对控制器和 DRAM 的 DDR 电源网上的片上去耦电容进行准确建模。这可以确保在 DDR 仿真中实现准确的电源噪声和电源引起的抖动 (PSIJ) 估算。可以从 DRAM 供应商处获得 DRAM 的片上去耦电容信息。
  • 使用 SPICE 或 S 参数文件对 DRAM 封装进行建模。这可以从 DRAM 供应商处索取。不建议使用 EBD 模型。
  • 请注意,SoC IBIS 模型中有一个包含 RLC 矩阵的封装部分,用于所有信号和电源网(包括 DDR)。建议使用 SoC IBIS 模型,而不是 SOC 封装 S 参数模型。使用 SoC IBIS 模型时,请确保检查“封装寄生效应”(或仿真工具中的等效参数),并使用“封装模型”模型类型,其中包含基于每个引脚的全耦合 L/C 信息(在 IBIS 文件中表示为“[封装模型] am62_pkg”)。
  • DDR 电源网上的片上去耦电容的 AM62x 模型:
    • 数据
      ******************************************
      * On-die Decoupling circuit for AM62x (DIE_VDDS_DDR to VSS)
      ******************************************
      * Notes:
      * Includes on-die decoupling for all DDR signals 
      *
      * This subcircuit should be added across the AM62x IBIS model's
      * DIE_VDDS_DDR and VSS pins
      *
      ******************************************
      * x_decouple DIE_VDDS_DDR vss_die AM62x_ondie_decoupling_alldq
      ******************************************
      .SUBCKTAM62x_ondie_decoupling_alldq DIE_VDDS_DDR vss_die
      Cvddq_c  DIE_VDDS_DDR DIE_VDDS_DDR_c 1.324741e-9
      Rvddq_c  vss_die DIE_VDDS_DDR_c 25.0036612e-3
      .ENDS
    • 地址/命令
      ******************************************
      * On-die Decoupling circuit for AM62x (DIE_VDDS_DDR to VSS)
      ******************************************
      * Notes:
      * Includes on-die decoupling for all DDR signals 
      *
      * This subcircuit should be added across the AM62x IBIS model's
      * DIE_VDDS_DDR and VSS pins
      *
      ******************************************
      * x_decouple DIE_VDDS_DDR vss_die AM62x_ondie_decoupling_alldq
      ******************************************
      .SUBCKTAM62x_ondie_decoupling_alldq DIE_VDDS_DDR vss_die
      Cvddq_c  DIE_VDDS_DDR DIE_VDDS_DDR_c 4.335517e-9
      Rvddq_c  vss_die DIE_VDDS_DDR_c 25.0036612e-3
      .ENDS