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PRODUCTION DATA

在建议运行条件下测得（除非另有说明）⁽⁵⁾

参数	测试条件	最小值	典型值	最大值	单位
ADC 转换周期⁽¹⁾		10.1		11	ADCCLK
上电时间				500	µs
增益误差		-5	±3	5	LSB
偏移误差		-4	±2	4	LSB
通道间增益误差			±4		LSB
通道间失调误差			±2		LSB
ADC 间增益误差	所有 ADC 的 V_REFHI 和 V_REFLO 均相同		±4		LSB
ADC 间失调误差	所有 ADC 的 V_REFHI 和 V_REFLO 均相同		±2		LSB
DNL⁽²⁾		> -1	±0.5	1	LSB
INL		-2	±1.0	2	LSB
SNR⁽³⁾⁽¹⁰⁾	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100 kHz		69.1		dB
THD⁽³⁾⁽¹⁰⁾	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100 kHz		-88		dB
SFDR⁽³⁾⁽¹⁰⁾	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100 kHz		89		dB
SINAD⁽³⁾⁽¹⁰⁾	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100 kHz		69.0		dB
ENOB⁽³⁾⁽¹⁰⁾	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100kHz，单个 ADC⁽⁶⁾，所有封装		11.2		位
	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100kHz，同步 ADC⁽⁷⁾，所有封装		11.2
	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100kHz，异步 ADC⁽⁸⁾， 100 引脚 PZP 封装		不支持
	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100kHz，异步 ADC⁽⁸⁾， 176 引脚 PTP 封装		9.7
	V_REFHI = 2.5V，f_in = 100kHz，异步 ADC⁽⁸⁾， 337 焊球 ZWT 封装		10.9
PSRR	V_DDA = 3.3V 直流 + 200mV 直流至正弦（1kHz 时）		60		dB
PSRR	V_DDA = 3.3V 直流 + 200mV 正弦（800kHz 时）		57		dB
ADC 间隔离⁽¹⁰⁾⁽⁴⁾⁽⁹⁾	V_REFHI = 2.5V，同步 ADC⁽⁷⁾，所有封装	-1		1	LSB
	V_REFHI = 2.5V，异步 ADC⁽⁸⁾，100 引脚 PZP 封装		不支持
	V_REFHI = 2.5V，异步 ADC⁽⁸⁾，176 引脚 PTP 封装	-9		9
	V_REFHI = 2.5V，异步 ADC⁽⁸⁾，337 焊球 ZWT 封装	-2		2
V_REFHI 输入电流			130		µA

(1) 请参阅节 6.10.1.2.7。

(2) 没有丢失的代码。

(3) 交流参数将受到时钟源精度和抖动的影响，在为系统选择时钟源时应考虑到这一点。用于这些参数的时钟源是通过 PLL 馈送的高精度外部时钟。片上内部振荡器的抖动比外部晶振更高，如果将其用作时钟源，这些参数将会降低。

(4) 由于多个 ADC 同时运行而产生的最大 DC 代码偏差。

(5) 典型值是在 V_REFHI = 2.5V 且 V_REFLO = 0V 时测量的。在 V_REFHI = 2.5V 且 V_REFLO = 0V 时对最小值和最大值进行测试或表征。

(6) 一个 ADC 在工作，而其他所有 ADC 都处于空闲状态。

(7) 所有 ADC 都以相同的 ADCCLK、S+H 持续时间、触发器和分辨率工作。

(8) 任何以异构 ADCCLK、S+H 持续时间、触发器或分辨率工作的 ADC。

(9) 基于特征化的值。

(10) 作为减少电容耦合和串扰的最佳实践的一部分，与 ADC 输入和 V_REFHI 引脚相邻的引脚上的 I/O 活动已降至最低。