ZHCSMS6B November 2020 – September 2021 TPS25858-Q1 , TPS25859-Q1
PRODUCTION DATA
TPS2585x-Q1 集成了两个 USB 限流开关,因此可提供可调节的电流限值以防止 USB 端口过热。TPS2585x-Q1 采用两级电流限制方案,一个是典型电流限值 IOS_BUS,第二个是次级电流限值 IOS_HI。次级电流限值 IOS_HI 是初级电流限值 IOS_BUS 的 1.6 倍。次级电流限值是抗尖峰脉冲时间 tIOS_HI_DEG 内的电流限制阈值,然后 USB 电源开关电流限制阈值会设置回 IOS_BUS。可以通过Equation9 来计算用于调整典型电流限值的电阻值。
该公式假设采用一个理想的无变化外部调节电阻器。若要将电阻容差考虑在内,首先根据容差规格确定最小和最大电阻值,然后在公式中使用这些值。电流限值和调节电阻器之间存在反比关系,因此使用 IOS(min) 公式中的最大电阻值和 IOS(max) 公式中的最小电阻值。表 10-3 列出了典型的 RILIM 电阻值。
RILIM (KΩ) | IOS_BUS – 电流限制阈值 (mA) |
---|---|
19.1 | 1690 |
15.4 | 2096 |
11.5 | 2806 |
9.53 | 3386 |
短接至 GND | 3550 |
对于常规应用,它可以将 ILIM 引脚直接短接至 GND,从而设置默认的 3.55A 电流限值,每个 USB 端口上的最大变化为 ±15%,从而遵循 Type-C 规范。TPS2585x-Q1 提供内置软启动电路,可控制输出电压的上升压摆率,以限制浪涌电流和电压浪涌。
次级电流限值 IOS_HI 允许 USB 端口在瞬态过载情况下短时间拉出较大的电流,从而为 USB 端口特殊过载测试(如 MFi OCP)带来好处。在常规应用中,一旦器件上电且 USB 端口未处于 UVLO 状态,USB 端口电流限制阈值就会被次级电流限值 IOS_HI 覆盖,因此 USB 端口可以输出高达 1.6 × IOS_BUS 的电流,该电流通常持续 2ms。在经过抗尖峰脉冲时间 tIOS_HI_DEG 之后,会通过 IOS_BUS 将电流限制阈值设置回典型电流。次级电流限制阈值在经过 tIOS_HI_RST 抗尖峰脉冲时间(通常为 16ms)之后才会恢复。如果浪涌电流高于 IOS_HI 阈值,则电流限值会立即设置回 IOS_BUS,无需等待 tIOS_HI_DEG。
TPS2585x-Q1 通过将输出电流限制为 IOS_BUS 来响应过流情况,如前面的公式所示。当发生过载情况时,器件保持恒定的输出电流,输出电压会相应地降低。可能会发生三种过载情况:
如果一种过载情况的时间足够长到启用上述任一情况中的热限制,则 TPS2585x-Q1 会进行热循环。热限制会关闭内部 NFET,并在 NFET 结温超过 160°C(典型值)时启动。器件保持关闭状态,直到 NFET 结温冷却 10°C(典型值),然后重新启动。这种额外的热保护机制有助于防止结温进一步升高,从而避免器件因结温超过主热关断阈值 TSD 而关闭。