ZHCSQL9 September 2021 LM25149-Q1
综合考虑 IEC 61508 和 ISO 26262 等标准列出的常见失效模式、子电路功能重要性和复杂性比率以及优秀工程设计评价后,表 3-1 中列出了 LM25149-Q1 的失效模式分布估算。
本章节列出的失效模式为随机失效事件,且不包括因滥用或过压而导致的失效。
裸片失效模式 | 失效模式分布 (%) |
---|---|
无输出电压 | 60% |
输出不符合规格-电压或时间 | 25% |
栅极驱动器卡在打开位置 | 5% |
电源正常 - 误跳闸或跳闸失败 | 5% |
任意两个引脚短路 | 5% |
表 3-1 中的 FMD 排除了隔离栅两端的短路故障。如果满足以下要求,则可以根据 ISO 61800-5-2:2016 排除隔离栅上的短路故障:
爬电距离和间隙应根据特定器件隔离标准来应用。应注意保持电路板的爬电距离和间隙,从而确保印刷电路板上隔离器的安装焊盘不会导致此距离缩短。