ZHCSQL9 September 2021 LM25149-Q1
本章节根据业内广泛使用的两种不同的可靠性标准，提供了 LM25149-Q1 的功能安全时基故障 (FIT) 率：
| 时基故障 IEC TR 62380/ISO 26262 | 时基故障（每 109 小时的故障次数） |
|---|---|
| 元件的总时基故障率 | 16 |
| 裸片时基故障率 | 6 |
| 封装时基故障率 | 10 |
表 2-1 中的故障率和任务剖面信息摘自可靠性数据手册 IEC TR 62380/ISO 26262 第 11 部分：
| 表 | 类别 | 基准时基故障率 | 基准虚拟 TJ |
|---|---|---|---|
| 5 | CMOS、BICMOS ASIC 模拟和混合高压 >50V 电源 | 30 时基故障 | 75°C |
表 2-2 中的基准时基故障率和基准虚拟 TJ（结温）摘自 Siemens Norm SN 29500-2 表 1 至表 5。工作条件下的故障率是基于 SN 29500-2 第 4 节中的转换信息，利用基准故障率和虚拟结温计算而出。