要确定输出电压精度，请参阅节 6.5表中的 V_ACC 规格。V_ACC 指定不同温度下最小精度为 –1.3%，最大精度为 +1.2%。此规格适用于整个温度范围（–55°C 至 125°C）、所有输入电压（0.85V ≤ V_IN ≤ 7V 和 2.2V ≤ V_BIAS ≤ 14V）以及最高为满载（1mA ≤ I_OUT ≤ 1.5A）的情况。有关测量的一些额外详细信息，请参见节 8.3.2。为了计算系统级精度，还添加了以下误差源：

• 由于承受 TID 后的规格是在室温下测得（为避免在高温下退火而采用 MIL 标准），因此过温环境下的精度规范中不包括 TID 漂移。TPS7H1111 指定承受 TID 后的最小精度为 –0.7%，最大精度为 +1.1%。相比之下，承受 TID 前的最小精度为 –0.7%，最大精度为 +0.9%。因此，由于 TID 而导致的规格增大是额外增加了 0.2% 的误差。虽然可以改用单个单元的最坏情况 TID 漂移，但这可能非常不乐观，因为这需要一个单元具有接近最大值的初始室温精度和接近最大值的漂移。
• 需要添加由 R_REF 和 R_SET 电阻器的电阻器容差引起的外部误差。由于假定这些误差不相关，因此我们决定将误差视为平方和的形式相加。对于 R_REF 和 R_SET 电阻器所选的 0.1% 容差，总误差为R_(error) = sqrt(0.1%²+0.1%²) = +/– 0.14%.

方程式 15 用于计算输出电压精度的系统误差。

因此，负误差为System_(error) = –1.3% – 0.14% – 0% = –1.44% 正误差为System_(error) = 1.2% + 0.14% + 0.2% = 1.54%。TPS7H1111 器件、外部电阻器和 100krad(Si) 的 TID 产生的总系统误差为 +1.54%/–1.44%。如果以总系统误差为中心，则为 ±1.49%。

同样，也可以加入寿命漂移数据。C 组数据可用于帮助进行此计算。对于这个示例，假定与其他误差源相比，寿命漂移最小，因此未添加。