ZHCT404A may   2020  – may 2020 LM61460-Q1

 

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  2. 引言
  3. 使用倒装芯片封装管理热量
  4. 电路板结构影响
  5. 铜面积和热性能
  6. 估算转换器的结温
  7. 测量转换器结温面临的挑战
  8. IC 级的进一步散热优化
  9. 结论
  10. 参考文献
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使用倒装芯片封装管理热量

无论降压转换器的效率如何,功率级都会产生损耗。电源转换器损耗会导致器件结温升高,从而妨碍在较高环境温度下的安全运行。针对高环境温度的转换器设计需要适当的热管理,以确保不超过转换器的建议最大额定结温,从而防止转换器使相邻器件升温。

GUID-2EA72577-4081-4EFE-AC42-2D4B87006FD0-low.png图 1 使用 LM61440-Q1 降压转换器减小解决方案面积

许多半导体制造商正在采用倒装芯片封装设计来实现转换器。倒装芯片器件通常采用 Quad Flat No-lead (QFN) 封装,在半导体芯片与引线框之间实现低电感连接。这在热性能和噪声性能之间实现了良好的平衡。但是,封装的底部可能没有散热焊盘,这会降低其散热效率。不过,对于倒装芯片器件,可以通过芯片与引线框之间的铜连接实现高效的热传导(图 2图 3)。

为了避免温度过度升高,有必要提供一条从着陆焊盘远离器件的高导热路径。连接到器件焊盘的宽引线可以在元件层中实现散热。密集的 PCB 布局会阻碍元件层有效散热,尤其是对于低效(高温)相邻器件。如图 3 所示,各个内层的散热通常比元件层的散热更有效。如果将散热过孔连接到已连接到器件电源或回路引脚的铜上,则可以实现散热。然后,这些通孔将连接到 IC 下方的铜平面,从而增加有效的铜散热面积。在放置过孔时,务必最大程度地减少热瓶颈,同时为电源引脚提供最高的过孔数量和最低的热阻(图 2)。

GUID-BD42164E-DC29-49FF-BFBE-4CA3313C5CB5-low.png图 2 用于 PCB 层散热的倒装芯片内核到封装热传导路径的顶视图
GUID-9A9A650F-2731-4CFB-AC67-AC698B9DEFDD-low.png图 3 倒装芯片内核到封装热传导路径的电路板层视图