ZHCT435A October 2023 – June 2024 TMS320F280021 , TMS320F280021-Q1 , TMS320F280023 , TMS320F280023-Q1 , TMS320F280023C , TMS320F280025 , TMS320F280025-Q1 , TMS320F280025C , TMS320F280025C-Q1 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1
表 8 是本节中引用的唯一 ID 的汇总。更多详细信息，请参阅器件特定的功能安全手册。
| 唯一 ID | 简短描述 | 注释/软件支持 |
|---|---|---|
| ADC2 | DAC 至 ADC 环回检查 | |
| ADC8 | ADC 输入信号完整性检查 | |
| ADC10 | 硬件冗余 | |
| CAN3 | SRAM 奇偶校验 | |
| CLA1 | 软件相互比较 | |
| CLA2 | CPU 软件测试 | CLA_STL |
| CLA3 | 对于非法操作和非法结果的处理 | |
| CLK2 | 使用 CPU 计时器实现完整性 | SDL 模块：STL_OSC_CT |
| CLK3 | 使用 HRPWM 实现完整性 | SDL 模块：STL_OSC_HR |
| CLK4 | 双时钟比较器（DCC 类型 0） | |
| CLK16 | 双时钟比较器（DCC 类型 1） | 注：DCC 类型 1 与类型 2 相同。 |
| CLK17 | 双时钟比较器（DCC 类型 2） | |
| CPU1 | 软件相互比较 | |
| CPU2 | CPU 硬件内置测试 | SDL 模块：STL_HWBIST |
| CPU3 | CPU 软件测试 | C28X_STL |
| CPU7 | 对于非法操作、非法结果和指令陷入的处理 | |
| DCSM2 | 链路指针的多数表决和错误检测 | |
| ECAT6 | SRAM 奇偶校验 | |
| EFUSE2 | EFUSE ECC（仅数据） | |
| FLASH1 | 闪存 ECC（数据 + 地址） | |
| FLASH2 | 存储器的 VCU CRC 校验 | SDL 模块：STL_CRC |
| FLASH6 | ECC 逻辑的软件测试 | SDL 模块：sdl_ex_ram_ecc_parity_test 和 sdl_ex_flash_ecc_test |
| GPIO4 | 使用 I/O 环回的功能软件测试 | |
| GPIO5 | 硬件冗余 | |
| INC1 | 包括错误测试在内的功能软件测试 | |
| INC8 | 传输冗余 | |
| INC9 | 硬件冗余 | |
| MCAN8 | SRAM ECC（数据 + 地址） | |
| PIE1 | PIE 双 SDRAM 硬件比较 | |
| PIE2 | SRAM 软件测试 | |
| PIE3 | 包括错误测试在内的 ePIE 软件测试 | |
| PIE6 | PIE 双 SRAM 比较检查 | SDL 模块：STL_PIE_RAM |
| PIE8 | 在线监测中断和事件 | |
| PIE13 | 使用锁步比较的硬件冗余 | |
| ROM1 | 存储器的 VCU CRC 校验 | SDL 模块：STL_CRC |
| ROM9 | CLA 程序 ROM 的背景 CRC | |
| ROM10 | 存储器开机自检 (MPOST) | |
| ROM15 | ROM 奇偶校验 | |
| SRAM1 | SRAM ECC（数据 + 地址） | |
| SRAM2 | SRAM 奇偶校验 | |
| SRAM3 | SRAM 软件测试 | SDL 模块：STL_March |
| SRAM8 | 存储器的 VCU CRC 校验 | SDL 模块：STL_CRC |
| SRAM14 | 奇偶校验逻辑的软件测试 | SDL 模块：sdl_ex_ram_ecc_parity_test |
| STL_CPU_REG | 诊断库中的 CPU 寄存器测试示例 | 对于不包含 HWBIST 的器件，可以对 CPU 寄存器执行定期测试。STL_CPU_REG 不直接映射到 C2000 唯一 ID。STL_CPU_REG 是指诊断库中的一个 CPU 寄存器测试示例。如果需要，也为其他器件提供此示例。请参阅诊断库文档。 |