ZHCU022AF July 2010 – September 2022
在 RST/NMI 和 TEST 引脚上应用适当的进入序列,迫使MSP430 MCU在 BSL RESET 矢量而不是在地址 FFFEh 的 RESET 矢量上开始执行程序。
如果应用程序与计算机 UART 接口,这两个引脚可以在通过电平转换器后由串行通信接口 (RS232) 的 DTR 和 RTS 信号驱动。可在Topic Link Label4中找到硬件及相关注意事项的详细说明。如果 TEST 保持在低电平,同时RST/NMI 从低电平上升为高电平,则使用 FFFEh 地址处的普通用户重置矢量(标准方法,请参阅图 1-1)。
当 TEST 引脚接收到至少两个上升沿(低电平到高电平的转换),并且 TEST 为高电平,同时 RST/NMI 从低电平上升为高电平时,BSL 程序开始执行(BSL 进入方法,请参阅图 1-2)。这种电平转换触发机制提高了 BSL 启动的可靠性。TEST 引脚的第一个高电平必须至少为 tSBW, En(有关tSBW, En 参数,请参阅专用器件数据表)。
对于具有 DVIO 电源的 MSP430F522x 和 MSP430F521x 分离轨器件,进入序列应用于 RST/NMI 和 BSLEN 引脚。有关引脚信息,请参阅专用器件数据表。有关更多信息,请参阅使用 MSP430F522x 和 MSP430F521x 器件进行设计中的引导加载程序部分。
引脚状态建议的最小时间为 250ns。有关任何差异,请参阅专用器件勘误表,因为某些5xx和6xx器件修订版需要专用进入序列。
TEST 信号通常用于切换应用函数和 JTAG 函数之间的端口引脚。在具有 BSL 功能的器件中,TEST 和 RST/NMI 引脚也用于调用 BSL。若要调用 BSL,RST/NMI 引脚必须配置为 RST,并且必须保持为低电平,同时拉高 TEST 引脚,并在 TEST 引脚上应用后续两个边沿(下降沿和上升沿)。 RST/NMI 引脚被释放后, TEST 引脚保持低电,接着BSL 会启动(请参阅图 1-2)。