ZHCU410B December 2017 – November 2022
安全状态由以下事件触发：
驱动状态反馈 STO_FB 子系统
STO_FB 信号为逻辑低电平信号，用于指示驱动状态。高电平信号（逻辑电平 1）表示正常驱动运行，而低电平信号（逻辑状态 0）表示处于安全驱动状态。原理图如图 2-5 所示。相应 STO_1 和 STO_2 安全子系统的输出信号 STO_1_FB 和 STO_2_FB 会逻辑组合成单个低电平有效反馈信号 STO_FB 并发送至隔离式 24V 数字输出。表 2-3 中显示了相应的逻辑状态。
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输入 1：STO_1 |
输入 2：STO_2 |
输出 1：STO_1_FB |
输出 2：STO_2_FB |
驱动状态 |
STO_FB |
注释 |
|---|---|---|---|---|---|---|
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1 |
1 |
1 |
1 |
正常运行 |
1 |
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0 |
0 |
0 |
0 |
安全状态（关闭） |
0 |
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1 |
1 |
0 |
1（卡在高电平故障） |
安全状态（关闭） |
0 |
(1) MCU 已经检测到子系统 STO_2 中的单个危险故障（卡在高电平），并已经通过 STO_1 子系统触发安全状态。 |
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1 |
1 |
1（卡在高电平故障） |
0 |
安全状态（关闭） |
0 |
(2) MCU 已经检测到子系统 STO_1 中的单个危险故障（卡在高电平），并已经通过 STO_2 子系统触发安全状态。 |
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0 |
0 |
0 |
1 |
安全状态（关闭） |
0 |
之前可能已检测到单个检测到的故障，请参阅上一行中的 (1)。 |
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0 |
0 |
1（卡在高电平故障） |
0 |
安全状态（关闭） |
0 |
之前可能已检测到单个检测到的故障，请参阅上一行中的 (2)。 |
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0 |
0 |
1（卡在高电平故障） | 1（卡在高电平故障） | 正常运行 |
1 |
危险状态，由两个危险故障造成，安全子系统 STO_1 和 STO_2 中各有一个。注意：该系统设计为支持单一容错 (HFT=1)，而不是允许发生两个故障，每个子系统各一个。 |
STO_FB 信号可以为低电平有效（逻辑状态 0），而 STO_1 和 STO_2 均为高电平无效（逻辑状态 1）。当诊断 MCU (SIL 1) 在 STO_1 或 STO_2 子系统其中一个上检测到单一危险故障时，便会出现此状态。如果发现短路或卡在高电平，MCU 便会将诊断脉冲 MCU_Diag_Ctrl_Out1 和 MCU_Diag_Ctrl_Out2 持续驱动至低电平，以将三相 IGBT 逆变器置于安全状态。例如，此状态可由外部安全 PLC 用来识别 STO_1 或 STO_2 系统中的单一故障并采取适当的措施。安全 PLC 及相关行为不在本设计的讨论范围内。