ZHCU458I march 2018 – july 2023
任何逆变器效率损失的主要原因都将是开关器件中产生的损耗。对于每个器件,这些损耗分为三类:
每一种损耗都由其自身的公式决定,并可根据器件数据表以及已设置的设计参数确定。
导通损耗由 FET 的导通时间、开关电流和导通电阻进行驱动:
其中
开关损耗由器件的开关能量和选定测试点的开关电压决定。使用设计的外部栅极电阻器的电阻值确定器件数据表中的开关能量值。所需的其余值是在设计阶段的早期确定的。
图 2-32 针对 C3M0060065D SiC MOSFET 展示了用于从器件数据表中提取开关能量值的图形示例。
以类似的方式使用已知值计算二极管导通损耗:
其中
使用上述三个公式,可针对两个 SiC MOSFET 计算出该设计的预期损耗,如表 2-1 所示。
参数 | C3M0075120D (Q1) | C3M0060065D (Q3) |
---|---|---|
导通损耗 | 5.76W | 4.5W |
开关损耗 | 1.8W | 1.13W |
二极管损耗 | 0W | 0W |
总计 | 7.56W | 5.63W |
总系统损耗估算的最后一部分是电感器损耗。这些损耗是使用电感器直流和交流电阻值以及节 2.3.1.3中的预期电感器电流确定的。
然后,此设计的总主要能量损耗为:
使用方程式 30 来确定总的预期逆变器效率。请注意,这是一个估算值,但到目前为止可以使用该估算值来验证设计。