ZHCU887D September 2020 – January 2022 TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1
可以使用 CPU 测试 SRAM 的完整性(位单元、地址解码器和感测放大器逻辑)。根据安全要求,可以在启动时或应用期间执行该测试。如果 SRAM 内容是静态的,也可以使用 VCU 执行 CRC 校验来代替破坏性测试(测试后需要恢复存储器内容的测试)。有关实现该特定测试的详细信息,请参阅特定 C2000 MCU 器件随附的安全包。