效率测试是在 27°C 实验室温度下使用 HIOKI PW6001 电源分析仪和 HIOKI CT6872 电流互感器完成的。TIDA-010936 由 48V 直流电源供电，并使用大功率伺服电机作为负载（72V、21A）。一个测力计在电机内提供高负载。PWM 载波频率设置在 40Hz 至 80kHz 之间。电机转速为 600RPM。图 4-20 所示为测试设置和布线方框图的图片。

在所有这些测试中，均未使用散热器和风扇，因此仅运用 TIDA-010936 PCB 的自然对流。

图 4-20 用于逆变器效率分析的 TIDA-010936 测试设置

图 4-21 用于逆变器效率分析的 TIDA-010936 布线方框图

图 4-22 显示了 TIDA-010936 功率损耗与三相电机负载电流（以 A‌_RMS‌ 为单位）间的关系。这些数字不包括 C2000 MCU LaunchPad 开发套件的功率损耗。

图 4-22 TIDA-010936 电路板在 48V 输入电压下的损耗与三相输出电流间的关系

TIDA-010936 电路板在最大负载电流为 14.8A_RMS 时的功率损耗在 40kHz PWM 下为 9.66W，在 80kHz PWM 下为 10.5W。TIDA-010936 功率损耗主要由 GaN FET (LMG2100) 中的损耗和 1mΩ 分流电阻中的损耗决定。

最大线电压为 19.5V_RMS（具有三次谐波的空间矢量 PWM）且功率因数为 0.9 时，理论最大峰值效率在 48VDC、40kHz PWM 下为 99.3%，在 48VDC、80kHz PWM 下为 99.2%，如图 4-23 所示。

可以发现，随着 PWM 开关频率增加，电路板的功率损耗不会显著增加。这也反映了 LMG2100R044 GaN-FET 具有极低的开关损耗，即使在更高的 PWM 开关频率下也能实现极高的效率。

图 4-23 在 48VDC 以及 40kHz、60kHz 和 80kHz PWM 条件下计算出的最大峰值效率