ZHCUC13 May   2024

 

  1.   1
  2.   说明
  3.   开始使用
  4.   特性
  5.   应用
  6.   6
  7. 1评估模块概述
    1. 1.1 简介
    2. 1.2 套件内容
    3. 1.3 规格
    4. 1.4 器件信息
  8. 2硬件
    1. 2.1 EVM 测试板位置和说明
    2. 2.2 EVM 组装说明
    3. 2.3 接口
      1. 2.3.1 模拟输入
      2. 2.3.2 放大器输出
        1. 2.3.2.1 差分输出
        2. 2.3.2.2 具有固定增益的单端输出
        3. 2.3.2.3 具有比例增益的单端输出
      3. 2.3.3 调制器输出
        1. 2.3.3.1 内部时钟
        2. 2.3.3.2 外部时钟
    4. 2.4 电源
      1. 2.4.1 VDD1/AVDD 输入
      2. 2.4.2 VDD2/DVDD 输入
    5. 2.5 EVM 操作
      1. 2.5.1 模拟输入和 VDD1/AVDD 电源
      2. 2.5.2 输出和 VDD2/DVDD 电源
      3. 2.5.3 测试过程
        1. 2.5.3.1 设备设置
        2. 2.5.3.2 过程
  9. 3硬件设计文件
    1. 3.1 原理图
    2. 3.2 PCB 布局
    3. 3.3 物料清单
  10. 4其他信息
    1. 4.1 商标
  11. 5相关文档

EVM 测试板位置和说明

图 3-1 显示了各个测试板对应的位置,表 2-1 显示了各个测试板匹配的电路配置。该 EVM 的反面还以丝印形式印有每个电路的名称。

DIYAMC-0-EVM 电路配置的位置图 2-1 电路配置的位置
表 2-1 测试板和电路配置图例

测试板

说明

测试板 A1采用 DUB|8 封装的差分输出隔离式放大器
测试板 B1采用 DWV|8 封装的差分输出隔离式放大器
测试板 C1

采用 D|8 封装的差分输出隔离式放大器

测试板 D1采用 DEN|8 封装的差分输出隔离式放大器
测试板 A2采用 DUB|8 封装的单端输出、固定增益隔离式放大器
测试板 B2采用 DWV|8 封装的单端输出、固定增益隔离式放大器
测试板 C2采用 D|8 封装的单端输出、固定增益隔离式放大器
测试板 D2采用 DEN|8 封装的单端输出、固定增益隔离式放大器
测试板 A3采用 DUB|8 封装的单端输出、比例增益隔离式放大器
测试板 B3采用 DWV|8 封装的单端输出、比例增益隔离式放大器
测试板 C3采用 D|8 封装的单端输出、比例增益隔离式放大器
测试板 D3采用 DEN|8 封装的单端输出、比例增益隔离式放大器
测试板 A4采用 DUB|8 封装的内部时钟隔离式调制器
测试板 B4采用 DWV|8 封装的内部时钟隔离式调制器
测试板 C4采用 D|8 封装的内部时钟隔离式调制器
测试板 D4采用 DEN|8 封装的内部时钟隔离式调制器
测试板 A5采用 DUB|8 封装的外部时钟隔离式调制器
测试板 B5采用 DWV|8 封装的外部时钟隔离式调制器
测试板 C5采用 D|8 封装的外部时钟隔离式调制器
测试板 D5采用 DEN|8 封装的外部时钟隔离式调制器