ZHCUC57E August 2016 – July 2024
可选的非周期性测试会影响加电时间,从而影响显示图像内容的时间。表 6-30 提供了非周期性测试的大致执行时间,以供设计时考虑。这些值不是规格值,实际执行时间将会有所不同。
由于测试数据存储在闪存中,闪存带宽会影响测试速度。带宽的计算方式为读取线路数乘以 SPI 数据速率。例如,49.41MHz 的四路 I/O SPI 的带宽为 197.64Mbps。
如果执行任何数量的测试,则必须将测试设置时间考虑在内一次。请参考表 6-31。执行时间的计算公式为 tTest_Setup + ∑tTest。测试设置时间不适用于引导应用程序测试。
测试 | 时间 (ms) | |
---|---|---|
低闪存带宽 (50.92Mbps) | 高闪存带宽 (197.64Mbps) | |
DLPC230-Q1 前端功能测试 | 20 | 18 |
DLPC230-Q1 后端功能测试 | 10 | 7 |
DLPC230-Q1 存储器 BIST | 47 | 28 |
TPS99000-Q1 信号接口测试 | 3 | 2 |
DMD 存储器测试 | 42 | 38 |
闪存数据验证(引导) | 180 | |
DLPC230-Q1 命令和闪存接口存储器测试(引导) | 1 |
测试 | 时间 (ms) | |
---|---|---|
低闪存带宽 (50.92Mbps) | 高闪存带宽 (197.64Mbps) | |
测试设置 | 2 | 1 |