ZHCUC57E August 2016 – July 2024
主应用程序命令 DMD 进入测试模式,然后 DMD 将已知值写入其像素以下的存储器单元。然后,DMD 读回每个存储器单元的状态并向 DLPC230-Q1 驱动信号,以指示 DMD 存储器每列的通过或未通过状态。列是存储器单元的从上到下、宽度为 1 的数组(按照 DMD 设计惯例称为 DMD 行)。如果一列中的一个或多个存储器单元读取了错误的值,则该列将报告为“未通过”。然后,DLPC230-Q1 主应用程序对未通过的列数求和。请注意,由于结果仅以列级粒度传输到 DLPC230-Q1,因此不能按存储器单元详细级别报告结果。
此过程执行四次,并将每次执行的未通过列数相加。这四次执行包括 DMD 两半部分上的两个相反棋盘图形。使用两个棋盘图形可确保每个存储器单元在高电平和低电平状态下进行测试。尽管将这四个测试的结果相加,但每个测试的数据都是唯一的,这意味着不应多次计数存储器单元故障。
通过/未通过标准如表 6-36 所示。
未通过列数 | 测试结果 |
---|---|
0 或 1 | 通过 |
2 个或更多 | 失败 |