对于此测试，电子负载最初以 5A 开启，并设置为恒定电阻模式。然后，点击电子负载上的“short”选项，以在 TPS1213-Q1 中引发短路事件。如图 4-14 所示，在 TPS1213-Q1 在不到 6μs 的时间内关断主栅极之前，电流峰值高达约 85A。在此状态下，nFLT 置为低电平，主栅极保持锁存状态，直到按下 S2 或 S3，这将向 MSPM0L1306-Q1 发送信号来切换 INP 以尝试清除锁存。如果锁存成功清除，nFLT 将置为高电平并提醒 MCU 故障已清除。图 4-15 展示了从短路事件中成功恢复的示例。
