ZHCUCA9 September 2024
DP83TG720-IND-SPE 配备了多个用于硬件调试和基准测试的测试点。表 2-1 展示了电路板上的测试点及其关联的信号网络。
测试点 | 信号 | 说明 |
---|---|---|
TP1 | 3V3_S | 3.3V 电路板电源 |
TP2 | 1V8_S | 1.8V 电路板电源 |
TP3 | GND | 地 |
TP4 | GND | 地 |
TP5 | GND | 地 |
TP6 | 3V3_FB_ETH0 | 使用铁氧体磁珠和去耦电容器为 ETH0 PHY 提供 3.3V 电源 |
TP7 | 1V0_XTIDA_FB_ETH0 | 使用铁氧体磁珠和去耦电容器为 ETH0 PHY 提供 1.0V 电源 |
TP8 | 3V3_FB_ETH1 | 使用铁氧体磁珠和去耦电容器为 ETH1 PHY 提供 3.3V 电源 |
TP9 | 1V0_XTIDA_FB_ETH1 | 使用铁氧体磁珠和去耦电容器为 ETH1 PHY 提供 1.0V 电源 |
TP10 | 1V0_XTIDA | 来自降压模块的 1.0V 输出 |
TP11 | ETH1_RGMII_RX_CTL | 来自 ETH1 的 RX_CTRL 信号 |
TP12 | ETH1_RGMII_TX_CTL | 来自 ETH1 的 TX_CTRL 信号 |
TP13 | ETH0_RGMII_RX_CTL | 来自 ETH0 的 RX_CTRL 信号 |
TP14 | ETH0_RGMII_TX_CTL | 来自 ETH0 的 TX_CTRL 信号 |