LMG2640EVM-090 子卡上有多个测试点，专为使用示波器进行模拟和数字测量而设计。有关完整列表，请参阅表 2-1。Fault、PWM、EN 和 CS 测试点等数字测试点可用于调试系统并了解器件的工作原理。但请注意，预计会出现高电平信号振铃。长布线将这些测试点连接起来以便于测量，但会引入在开关转换期间表现为高频噪声的寄生效应。这些测试点仅用于观察目的，对于使用该子卡进行功能调试非常有用。